製品一覧
- ME機器
- 赤外分光分析装置POConePlus
- ディスクリート方式臨床化学自動分析装置 ヘモテクト NS-Prime
- 蛍光イムノクロマトリーダー DiaScan α
- 血球細胞除去用装置 Adamonitor SC
- 分析機器
- 遺伝子解析装置 Qsep Ultra
- ゼータ電位・粒子径測定システム ELSZneoSE
- ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
- 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA(オートサンプラ AS50 付き)
- 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
- 高分子相構造解析システム PP-1000
- ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000series
- ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500series
- 高感度示差屈折計 DRM-3000
- キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
- 計測機器
- 光波動場三次元顕微鏡 MINUK
- 顕微分光膜厚計 OPTM series
- ラインスキャン膜厚計®【インラインタイプ】
- ラインスキャン膜厚計®【オフラインタイプ】
- マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800
- MCPD series 組込み型膜厚ヘッド
- MCPD series インラインフィルム評価システム
- リタデーション測定装置 RETS-100nx
- OPTM series 組込みヘッドタイプ
- 分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3
- 膜厚モニター FE-300F
- 組込み型膜厚モニター
- スマート膜厚計 SM-100 series
- 分光エリプソメータ FE-5000 series
- 全光束測定システム HM/FM series
- 分光配光測定システム GP series
- 分光放射照度測定システム
- 量子効率測定システム QE-2100
- 高速LED光学特性モニター LE series
- カラーフィルタ分光特性測定装置 LCF series
- セルギャップ検査装置 RETS series
- 高速リタデーション測定装置 RE-200
- 高感度NIR量子効率測定システム QE-5000
- 透過率・吸光度測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
- 反射率測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
- 発光・蛍光測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
- 色測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
- 膜厚測定用途マルチチャンネル分光器 MCPD series
- 単粒子蛍光診断システム
- 量子ドット評価システム
- ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
- 超高速分光干渉式厚み計
- 紫外分光全放射束測定システム
- 紫外分光配光測定システム
- 紫外分光放射照度測定システム
- 紫外分光放射輝度計