動画ライブラリ
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK(Manual)
真実を見抜く。未来をはかる。
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トップインタビュー 「大塚電子ってどんな会社?」/ Otsuka Electronics CEO Interview with Kuniaki Natsume
大塚電子株式会社の代表取締役社長である夏目国昭に、会社の雰囲気、大切にしていること、実現したいことなどを伺いました!
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK
真実を見抜く。未来をはかる。
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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneoのご紹介
ゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした「ELSZneo」の紹介動画です。
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ラインスキャン膜厚計
フィルムの膜厚を全幅・全長測定できる『ラインスキャン膜厚計』の紹介動画です。
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ゼータ電位測定の原理
ゼータ電位を用いた測定技術について原理を中心にご紹介いたします。
Webセミナー
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全光束測定システム積分半球について
全光束測定システム積分半球についてをご紹介します。
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フィルムのゼータ電位測定
包装用や機能性フィルムなどの評価をゼータ電位測定を用いてご紹介します。
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色材のゼータ電位測定
濃厚な色材の評価や最適な分散剤評価、染料の吸着状態の評価についてゼータ電位測定を用いてご紹介します。
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タンパク質のゼータ電位測定
ゼータ電位を用いてタンパク質の吸着を評価する方法を測定例を含めてご紹介します。
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ゼータ電位測定の原理
ゼータ電位を用いた測定技術について原理を中心にご紹介いたします。
製品紹介
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK(Manual)
真実を見抜く。未来をはかる。
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK
真実を見抜く。未来をはかる。
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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneoのご紹介
ゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした「ELSZneo」の紹介動画です。
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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
ゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした「ELSZneo」の紹介動画です。
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ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
半導体製造設備から検査設備まで搬送の手間を省いたワンスルーのスタイルを提案します。
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ラインスキャン膜厚計
フィルムの膜厚を全幅・全長測定できる『ラインスキャン膜厚計』の紹介動画です。
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多検体ナノ粒子径測定システムnanoSAQLA
動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定装置(粒度分布計)の紹介動画です。
インタビュー
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トップインタビュー 「大塚電子ってどんな会社?」/ Otsuka Electronics CEO Interview with Kuniaki Natsume
大塚電子株式会社の代表取締役社長である夏目国昭に、会社の雰囲気、大切にしていること、実現したいことなどを伺いました!