ホーム > Webで学ぶ > 膜厚評価について学ぶ > ラインスキャン膜厚計によるインライン膜厚計測

ラインスキャン膜厚計によるインライン膜厚計測

8.測定事例(例3:チャックムラ)

■例3:チャックムラ検出による切り落とし幅決定

我々が普段目にする薄いフィルムは、一般的に押出成型された厚いフィルムを、高温下で両端を掴み(チャック)延伸することで製造されています。チャックされた両端付近は膜厚ムラが大きくなるため、通常はある程度の幅を切り落として、中央の膜厚ムラが少ない部分を製品として出荷しています。切り落とされた「耳」と呼ばれる部分は、回収され融解して原料として再利用されることもあります。このような再生コストや廃棄コスト、成分情報の漏洩リスクなどを最小限に抑えるため、切り落とし幅を決定する必要があります。
第11図はチャックムラを測定した例です。このようにチャックによって発生している膜厚ムラをパターンで抽出することが可能で、原料や温度によって変化するムラに細かく対応するための情報を提供することが可能です。

第11図 チャックムラの測定イメージ
第11図 チャックムラの測定イメージ

関連製品

ラインスキャン膜厚計®【インラインタイプ】

ラインスキャン膜厚計®【オフラインタイプ】

ページトップへ

X LinkdIn Youtube

大塚電子公式 SNS