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第31回日本DDS学会学術集会
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
京王プラザホテル（東京都新宿区）にて7月2日～3日の2日間、第31回日本DDS学会学術集会が開かれます。
大塚電子はゼータ電位・粒子径・分子量測定システム（ELSZ-2000series）を展示いたします。
また、7月3日の12：00から第４会場にて「光散乱法による両親媒性分子および生体高分子の物性評価 －粒子径・ゼータ電位測定から分子量測定まで－」という内容でランチョンセミナーもおこないます。
展示と合わせてご参加をお待ちしております。
| ●名 称 | 第31回日本DDS学会学術集会 |
|---|---|
| ●会 期 | 2015年7月2日（木）～3日（金） |
| ●会 場 | 京王プラザホテル（東京都新宿区） |
| ●入場料 | 詳細は事務局にお問い合わせください |
| ●主 催 |
■ 出展製品
＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series
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従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～10μm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL～のディスポーザブルセルで測定が可能です。
*（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸： ～ 40%） |
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