第28回 インターフェックスジャパン
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
7月1日(水)から3日(金)まで、東京ビッグサイトで「第28回 インターフェックスジャパン」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ダイナミック光散乱光度計、濃厚系粒径アナライザー、キャピラリ電気泳動システム、膜厚モニターを展示いたします。(東1ホールブースNo.24-001)
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
●名 称 | |
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●会 期 | 2015年7月1日(水)~3日(金) 10:00~18:00 |
●会 場 | 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東1~6ホール |
●入場料 | 5,000円 |
●主 催 |
出展ブース「東1ホール 24-001」
■ 出展製品
<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能>
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT
<粒子径・分子量測定>
● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000
動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布(粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。
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<ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能>
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000AS
希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
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<陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能>
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。 微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。
*極性逆転可能 |
<小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!>
● 膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
*1 光学的膜厚:nd |