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第28回 インターフェックスジャパン

無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

7月1日(水)から3日(金)まで、東京ビッグサイトで「第28回 インターフェックスジャパン」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ダイナミック光散乱光度計、濃厚系粒径アナライザー、キャピラリ電気泳動システム、膜厚モニターを展示いたします。(東1ホールブースNo.24-001)
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

●名  称

第28回 インターフェックスジャパン

●会  期

2015年7月1日(水)~3日(金) 10:00~18:00
 ※最終日(3日)は17:00まで

●会  場

東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東1~6ホール

●入場料

5,000円
 (事前登録された方には、無料招待券が送付されます) 
  事前登録を希望される方は インターフェックスジャパンホーム
  ページ内のこちらのページからお申し込みください。

●主  催

リード エグジビション ジャパン株式会社

出展ブース「東1ホール 24-001」

出展ブース「東1ホール 24-001」

■ 出展製品

<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能>

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。

ゼータ電位 -200 ~ 200mV
粒子径・粒度分布 0.6nm ~ 10000nm
分子量 360 ~ 20,000,000
対応濃度範囲 粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 % *
ゼータ電位:0.001%~40%td>

 *(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)

<粒子径・分子量測定>

● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布(粒径・粒径分布)測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。

粒子径・粒度分布 1.4nm ~ 7000nm
重量平均分子量 3×102 ~ 2×107
第二ビリアル係数 -1 ~ 20×10-4 mol・cm3・g-2

<ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能>

● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000AS

濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000AS

希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布 1nm ~ 5000nm (高感度仕様)
対応濃度範囲 0.001% ~ 10% (ラテックス112nmの場合)

<陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能>

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。 微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

測定波長範囲 190nm ~ 600nm
泳動電力 * 電圧 : 0 ~ ±30kV 、 電流 : 0 ~ 300μA
サンプル温調制御 室温以下 10~60℃

 *極性逆転可能

<小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!>

● 膜厚モニター FE-300

膜厚モニター FE-300

薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。

測定膜厚範囲 *1 10nm ~ 40um *2
測定波長範囲 300nm ~ 800nm *2
測定項目 絶対反射率測定、多層膜厚解析(5層)、光学定数解析

 *1 光学的膜厚:nd
 *2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります

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