Close
技術セミナー2015 in 新潟
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを開催いたします。ミナーは４つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。またテキストのみの配布も可能です。
是非、ご参加ください。
| ●名称 | 技術セミナー2015in新潟 |
|---|---|
| ●日時 | 2015年7月9日（木） 11：00～16：40 （受付10：30～） |
| ●会場 | 新潟県民会館 ２階 第１・２会議室 |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 吉江 |
技術セミナープログラム
受付開始 10：30～
【Seminar１】11：00～12：00
新製品ゼータ電位・粒径・分子量測定システムELSZ-2000のご紹介
|
粒子径・ゼータ電位は、コロイド粒子・エマルジョンなどの分散・凝集・表面改質・相互作用などにおいて、重要なパラメーターです。また、フィルム・ウェハなどの平板状試料の表面電荷の評価は、表面改質やコロイド粒子との相互作用の研究に活用されています。 |
|---|
【休憩・質疑応答】12：00～13：10
【Seminar２】13：10～14：10
キャピラリー電気泳動測定のご紹介
|
キャピラリ電気泳動装置は、シンプルな前処理のため短時間で分析ができ、サンプル・泳動液の消費が少量のため環境にやさしく・省コストな分離分析装置です。 |
|---|
【Seminar３】14：10～15：10
分光器を用いたフィルム・半導体分野のアプリケーションのご紹介
|
反射分光膜厚計FEシリーズは、非接触・非破壊で膜厚、膜質（屈折率、消衰係数）の評価が可能です。瞬間マルチ測光システムMCPDシリーズは、光学ユニットを組み合わせることで、透過率、反射率、リタデーション、軸検出、色度測定などの評価が可能です。膜厚測定を中心に、フィルム、半導体材料、光学材料分野のアプリケーションをご紹介します。 |
|---|
【休憩・質疑応答】15：10～15：40
【Seminar４】15：40～16：40
分光器を用いた光源・照明分野のアプリケーションのご紹介
|
瞬間マルチ測光システムMCPDシリーズを用いて、全光束（HM/FMシリーズ）、量子効率（QEシリーズ）、蛍光シート（DFシリーズ）、配光（GPシリーズ）の測定ができます。測定アプリケーションを中心に、新製品のムービングミラー方式配光測定システム、高速配光測定システムをご紹介します。 |
|---|
関連製品
【ゼータ電位・粒径・分子量測定システム】
従来からの希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置
●ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
|
従来からの希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。
粒子径測定範囲（0.6nm～10μm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした最小容量130μL～のディスポーザブルセルで測定が可能です。 また新たに0～90℃の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性・相転移温度解析が可能です。 ●測定項目
●測定範囲
*1（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸： ～ 40%）
| ||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
【キャピラリー電気泳動】
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
●キャピラリ電気泳動装置 Agilent 7100
|
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
【膜厚モニター】
高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計
●膜厚モニター FE-300
|
高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。 仕 様
*1 詳細はお問合せください | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
【マルチチャンネル分光器】
紫外から近赤外領域対応の多機能瞬間マルチ測光検出器
●マルチチャンネル分光器 MCPD-6800
|
MCPD-6800は、分光計測・分析のための基本システムです。 瞬時に分光スペクトルの測定ができ、自由に組み上げられる測定光学系と豊富なオプション類により、さまざまな目的に応じてシステムアップができます。測定波長範囲は4タイプより選択できます。 仕様
*本体のみ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
【高速配光測定システム GP-7 series】
２次元輝度測定からランプの配光特性をシミュレーション
●高速配光測定システム GP-7 series
|
特長
● 高速測定により、従来法と比較して大幅短縮化を実現（約5分） |
|---|
ホーム
