Close
技術セミナー2015 in 福岡
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを開催いたします。セミナーは3つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
是非、ご参加ください。
| ●名称 | 技術セミナー2015in福岡 |
|---|---|
| ●日時 | 2015年7月16日（木）技術相談 10：00～ |
| ●会場 | アクロス福岡 ６階 ６０４・６０５会議室 〒260-0834 福岡市中央区天神１丁目1-1 |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 三保谷・長谷川 |
技術相談
(1)10：00～10：30 (2)10：45～11：15 (3)11：30～12：00
ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置について（ELSZ series）
キャピラリ電気泳動システムについて（Agilent 7100）
分光器および膜厚装置について（MCPD series , FE series）
技術相談は、既存ユーザの新担当、新規ユーザ、装置検討中の方に装置や測定原理についての疑問などを弊社の |
技術セミナープログラム
【Seminar１】13：00～14：00
毎日のクロマト分析を手軽に、スピーディーに！ （Agilent 7100のご紹介）
|
キャピラリー電気泳動法は、HPLCよりも「前処理が少ない」「高価なカラムを使用しない」「高い分離能力」「サンプル量が少ない」などの優れた分離分析方法です。 |
|---|
【Seminar２】14：00～15：15
粒子計測でお困りの方に朗報！ （ELSZ-2000seriesのご紹介）
|
粒径、ゼータ電位は、ナノテク技術（分散・凝集、表面改質）の評価に重要なパラメータです。希薄溶液から懸濁溶液まで幅広い濃度範囲で測定可能です。 |
|---|
【休憩・質疑応答】15：15～15：45
【Seminar３】15：45～16：45
膜厚計測の新たな提案！ 形状サンプル・インプロセスに展開中！
|
射分光法は、「非接触・非破壊」「多層膜評価」などの特徴を持つ膜厚解析方法です。半導体・フィルム・FPDを中心として発展してきましたが、今や自動車部品・電池材料・パワー半導体・医療器具、DLC材料などで採用され、従来の枠組みを超えて活用されてきております。それらのノウハウを卓上型膜厚計や組込式膜厚計として新たな提案を行います。その原理や最新アプリケーションについてご紹介します。 |
|---|
ホーム
