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第6回 高機能フィルム展 ～フィルムテック ジャパン～
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
4月8日（水）から10日（金）まで、東京ビックサイトで「第6回 高機能フィルム展 ～フィルムテック ジャパン～」が開催されます。
本展示会では、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置を展示・紹介します。
今回は、反射率スペクトルをリアルタイムに測定可能な「組み込み型膜厚モニター FE-3/SF-3」と、最速0.025秒（40Hz)の高速タクトタイムを実現した「インライン高速リタデーションモニター RE-200」をご紹介します。また、お客様の用途に応じて最適なインライン測定装置をご提案します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。ぜひ弊社ブース（16-27）へお立ち寄りください。
| ● 名 称 | |
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| ● 会 期 | 2015年4月8日（水）～10日（金） 10:00～18:00 （最終日のみ17:00閉場） |
| ● 会 場 | |
| ● 主 催 | |
| ● 同時開催 | 第25回ファインテック ジャパン ～フラットパネル ディスプレイ 技術展～ |
出展ブース 東16-27(東2ホール)
出展製品
【 膜厚評価 】
多層膜の膜厚・膜質解析を高速・高精度で実現！
● 反射分光膜厚計 FE-3000
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マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
* 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
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インライン計測システム
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弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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【 膜厚測定 】
製造ライン上でリアルタイム測定！遠隔測定・多点測定に対応。
● 組み込み型膜厚モニター FE-3
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ファイバープローブを介して反射率スペクトルを測定し、膜厚を計測するシステムです。検出器部は可視光を測定する連続波長測定分光器です。測定光源部は可視光を照射する白色LEDを採用しています。
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【 Re.評価 】
最短0.025秒（40Hz）の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現！
● 高速リタデーション測定装置 RE-200
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偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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【 透過反射 】
紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案
● 瞬間マルチ測光システム MCPD-9800/6800/7700
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偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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