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nano tech 2015 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
1月28日（水）から30日（金）まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2015 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ダイナミック光散乱光度計、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、キャピラリ電気泳動システム、量子効率測定システム、膜厚モニターを展示いたします。（東4ホールブースNo.4G-13）
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、シーズ＆ニーズセミナーでは「ナノ粒子の物性評価方法の最新技術」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
| ●名 称 | |
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| ●会 期 | 2015年1月28日（水）～30日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東4・5・6ホール |
| ●入場料 | 3,000円 |
| ●主 催 | nano tech 実行委員会 |
出展ブース「東4ホール 4G-13」
■ 出展製品
＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series
＜pHに対するゼータ電位変化を連続測定可能＞
● ELSZ用pHタイトレーターシステム ELSZ-PT
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ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能です。
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＜粒子径・分子量測定＞
● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000
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動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布（粒径・粒径分布）測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。
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＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
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希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
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＜50検体までの試料の粒子径の自動測定が可能＞
● FPAR用オートサンプラー
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FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
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＜陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能＞
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
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陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。 微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。
*極性逆転可能 |
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＜超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定＞
● 量子効率測定システム QE-2000
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● 瞬時に絶対量子効率（絶対量子収率）の測定が可能です。
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＜小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！＞
● 膜厚モニター FE-300
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薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
*1 光学的膜厚：nd |
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シーズ＆ニーズセミナー
併催のシーズ＆ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
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