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第15回 FILMTECH JAPAN[東京] - 高機能フィルム展 -

2024年10月29日(火)から31日(木)まで、幕張メッセで「第15回 FILMTECH JAPAN[東京] - 高機能フィルム展 - 」が開催されます。
大塚電子のブースでは【新製品】「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、「ラインスキャン膜厚計®」などフィルム関連のインライン検査装置、研究開発用膜厚計、リタデーション測定装置の実機展示を致します。
今年は『透明体の傷や異物を可視化・定量化できる事例』や『抜けのない全面フィルム検査事例』など研究室から生産管理まで使える具体的な資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

 

● 名  称

第15回 FILMTECH JAPAN[東京] - 高機能フィルム展 -

● 会  期

2024年10月29日(火)~31日(木) 10:00~18:00(最終日のみ17:00終了) 

● 会  場

幕張メッセ

● 主  催

RXジャパン株式会社

● 入  場

招待券が必要
 (招待券はこちらからお申込みください

出展ブース 5ホール 31-26

出展ブース 5ホール 31-26

透明体の傷や異物を可視化・定量化

光波動場三次元顕微鏡

光波動場三次元顕微鏡
  • nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能
  • 1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得
  • フォーカス不要で高速測定が可能
  • 非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能
  • 任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易

分光干渉式を採用 フィルムの全面検査を実現

ラインスキャン膜厚計®【インラインタイプ】

ラインスキャン膜厚計®【インラインタイプ】

膜厚測定範囲:0.1μm ~ 300μm

生産ラインにおいて高精度にフィルムを評価

インラインフィルム評価システム

インラインフィルム測定システム
  • プロセス中の薄膜高速測定に最適
  • 最短露光時間1ms~ ※仕様による
  • リモート測定に対応
  • 膜厚測定範囲65nm~92μm(SiO2換算)

フィルムのコーティング膜 膜厚を高速・高精度測定

顕微分光膜厚計 OPTM series

顕微分光膜厚計 OPTM series

膜厚測定範囲:1nm ~ 92μm

・透明基板において裏面処理不要
・薄膜でも高精度な光学定数が可能
1ポイント1秒以内の高速測定
多層膜解析可能

非接触・非破壊、高速1ポイント1秒

あらゆるフィルムに対応した高精度リタデーション測定

リタデーション測定装置

リタデーション測定装置

リタデーション:0 ~ 60,000nm

・超高リタデーション測定
  超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる
・多層測定
  剥がさず非接触で様々なフィルムの積層状態を測定できる

 

 

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