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Webセミナー【半導体膜厚セミナー（前工程編）】（2022年5月）
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてのWebセミナーを開催いたします。
※本セミナーは2021年7月に録画したものを配信いたします。
| ●名称 | Webセミナー【半導体膜厚セミナー（前工程編）】（2022年5月） |
|---|---|
| ●日時 | 2022年5月19日（木） 15：00～16：00 （開始5分前よりアクセス可能です） ※お申込は5月19日（木）10時で締め切らせていただきます。 ※ 参加申込みは締め切らせていただきました。 |
| ●会場 | Webセミナー（オンラインセミナー） |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 西井・岡本 |
【Seminar】15：00～16：00
半導体膜厚セミナー（前工程編）
前工程の多様なニーズに応える大塚電子膜厚計の特長と役割
本編は、半導体前工程において、ベアウェーハ製造プロセスから配線プロセスに関わる当社膜厚計の特長と役割についてご紹介します。
【関連機器】
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ご視聴方法
本セミナーは「Microsoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします
インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
推奨ブラウザ：Microsoft Edge または Google Chrome
※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります
なお、同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。
皆様のご参加を、心よりお待ち申し上げます。
注意事項
・セミナーの録音や録画は固くお断りさせていただきます。
・同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。
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