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Webセミナー【半導体市場向け膜厚測定】（2020年10月）
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてWebセミナーを開催いたします。
ぜひ、ご参加ください。
| ●名称 | Webセミナー【半導体市場向け膜厚測定】（2020年10月） |
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| ●日時 | 2020年10月15日（木） 15：00～16：00 （開始5分前よりアクセス可能です） ※ 参加申込みは締め切らせていただきました。 |
| ●会場 | Webセミナー（オンラインセミナー） |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 西井・岡本 |
【Seminar】15：00～16：00
半導体市場においてロードポート膜厚計が実現する超高速・高精度マッピング測定
成膜、加工プロセスご担当者様に"新技術"をご提案。
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ご視聴方法
本セミナーは「Microsoft Teams」を使用します。
参加申込みいただいた方に、後日視聴用URLをご連絡いたします
インターネット環境のあるパソコン・タブレット・スマートフォンがあれば、どこからでも参加可能です。
※パソコン・タブレットの場合は、ブラウザで参加可能です
推奨ブラウザ：Microsoft Edge または Google Chrome
※スマートフォンの場合は、Teamsアプリをインストールする必要があります
なお、同業者のご登録はご遠慮いただいておりますのでご了承ください。
皆様のご参加を、心よりお待ち申し上げます。
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