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技術セミナー in 千葉
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを千葉にて開催いたします。セミナーは5つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。
| ●名称 | 技術セミナーin千葉 |
|---|---|
| ●日時 | 2020年6月30日（火） 11：00～17：00 （受付10：30～） ※本セミナーは新型コロナウイルス感染症拡大の影響により延期させていただきます |
| ●会場 | 千葉市民会館 |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 一原・西尾 |
技術セミナープログラム
【受付開始】10：30
【Seminar１】11：00～12：00
キャピラリー電気泳動測定の原理と最新アプリケーションのご紹介
キャピラリ電気泳動システム |
キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。 |
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【Seminar２】13：00～14：00
粒子径、ゼータ電位、平板表面電位測定の原理とアプリケーションのご紹介
多検体ナノ粒子径測定システム |
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。 |
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【Seminar３】14：10～14：40
高分子相構造解析システムの原理とアプリケーションのご紹介
高分子相構造解析システム |
可視光を使った小角光散乱法により、X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー）の評価が可能です。高分子やフィルムの構造をIn-situ、リアルタイムに解析できる装置です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。 |
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【Seminar４】15：00～15：40
フィルム製造工程における膜厚・光計測・分析評価事例についてのご紹介
顕微分光膜厚計 |
透明フィルム上の膜厚計測を得意とした反射分光膜厚計「OPTM シリーズ」に加え、新製品であるフィルムの全面検査を実現したラインスキャン膜厚計を中心に、装置特長・原理とフィルム製造工程での評価事例を交えてご紹介します。 |
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【Seminar５】15：50～16：30
半導体製造工程における膜厚計測・分析評価事例についてのご紹介
分光干渉式ウェーハ厚み計 |
分光干渉式ウエーハ厚み計「SF-3」、反射分光膜厚計「OPTM シリーズ」等、大塚電子の評価技術が半導体製造にどのように寄与できるかを中心にご紹介をさせていただきます。 |
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【装置・パネル展示コーナー】10：30～17：00
● キャピラリ電気泳動装置 Agilent 7100 |
【技術相談室】10：30～17：00
キャピラリー電気泳動、粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。
個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。 |
【デモンストレーション】10：30～17：00
実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定のデモンストレーションをおこないます。
● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA ※人数制限、時間制限が御座いますので、ご希望の方は、お申込みフォームの「デモンストレーション」にチェックを入れ、 |
新型コロナウイルスの感染拡大防止のための対応としまして、セミナーを延期させて頂きます。
ご迷惑をお掛けいたしますが、何卒ご了承のほどお願い申し上げます。
テキストご希望の方は、下記のボタンよりお申し込みください。
テキスト希望頂いた方々には、延期させて頂いたセミナー開催時、優先的にご案内させて頂きます。
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