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技術セミナー in 東京
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを東京にて開催いたします。セミナーは4つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。
| ●名称 | 技術セミナーin東京 |
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| ●日時 | 2019年7月19日（金） 11：00～16：30 （受付10：30～） |
| ●会場 | サンシャインシティ 文化会館 |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 田中 |
技術セミナープログラム
【受付開始】10：30
【Seminar１】11：00～12：00
キャピラリー電気泳動測定の原理と最新アプリケーションのご紹介
キャピラリ電気泳動システム |
キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。 |
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【Seminar２】13：00～14：15
粒子径、ゼータ電位、平板表面電位測定の原理とアプリケーション、および高分子相構造解析システムのご紹介
多検体ナノ粒子径測定システム |
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。 |
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【Seminar３】14：30～15：15
新製品の高速ニアフィールド配光測定装置による光源および光学材料評価アプリケーションのご紹介
高速ニアフィールド配光測定システム |
LED光源や、レーザー製品、赤外製品等に使用される小さいサイズの光源の開発においては、光源サンプルを「点」ではなく「面」でとらえ配光特性を検出する「ニアフィールド測定」が必要です。 |
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【Seminar４】15：30～16：30
反射分光膜厚計の基礎と製品ラインアップ、および不透明膜を対象とした非接触光学膜み計のご紹介
非接触光学厚み計 |
近年の機能性材料の開発競争において、薄膜の膜厚測定がますます重要となってきています。 |
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【技術相談室】10：30～17：00
キャピラリー電気泳動、粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。
個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。 |
【デモンストレーション】10：30～17：00
実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定のデモンストレーションをおこないます。
● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA |
【装置・パネル展示コーナー】10：30～17：00
● キャピラリ電気泳動装置 Agilent 7100 |
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