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JASIS 2018
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
2018年9月5日（水）から7日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2018」が開催されます。
大塚電子では、「大塚電子だからできる"光散乱/光計測"技術のご提案」をテーマに下記の装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、新技術説明会（セミナー）もおこないます。（詳細は下記をご覧ください）
お気軽にご参加ください。
| ●名 称 | |
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| ●会 期 | 2018年9月5日（水）～7日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 幕張メッセ国際展示場 |
| ●入場料 | 無料 |
| ● 主 催 |
出展ブース「8ホール 8A-202」、「8ホール 8A-302」
【粒子物性】粒子径＋ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+pHイトレータシステム
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ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。そして新たに“簡単測定モード”が搭載されました。
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【粒子物性】結晶化温度・速度・球晶径をリアルタイムで評価
● 高分子相構造解析システム PP-1000
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高分子材料のスピノーダル分解過程の相転移温度や相関長評価、機能性フィルムの内部構造評価、結晶性高分子の結晶化評価をリアルタイムで定量化可能です。
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【成分分析】1回で多成分を手軽に分離分析できる
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
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陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる物性のイオンを一斉に分析できます。試料の調製が簡単かつ微量で短時間・高分解能な分析が可能です。
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【膜質評価】エリプソメータに匹敵の高性能
● 顕微分光膜厚計 OPTM series
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半導体材料やフイルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。3μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も測定できます。簡単に解析できる楽々解析ウイザードを搭載しています。
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新技術説明会
併催の「新技術説明会」では以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
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