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技術セミナー in 名古屋
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてセミナーを名古屋にて開催いたします。セミナーは3つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
ぜひ、ご参加ください。
| ●名称 | 技術セミナー in 名古屋 |
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| ●日時 | 2018年7月4日（水） 13：00～16：30 （受付12：30～） |
| ●会場 | 愛知県産業労働センター ウインクあいち |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 中道 |
【受付開始】12：30
Theme1 ：自動車関連部材の評価技術
【評価例】車載半導体、ディスプレイ、CMS、フイルム、ヘッドランプ、電池、LiDAR、コイル、
部材上DLC、オイル、ゴム など
【Seminar１】13：00～13：45
光を利用した分析技術で新素材及び最先端部材（材料）の評価提案
顕微分光膜厚計 |
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Theme2 ：電池／半導体の材料評価への足がかり
【評価例】電極、セパレータ、電解液などの材料、ウェーハ、EUVレジスト、研磨粒子など
【Seminar２】13：50～14：35
分散性の評価 光散乱法による粒子径、ゼータ電位測定
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム |
新製品である「多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA」のご紹介と、 |
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【Seminar３】14：40～15：25
厚み評価 光学式による非接触厚み測定
 非接触光学厚み計 |
近年の機能性材料の開発競争において、薄膜の膜厚測定がますます重要となってきています。 |
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【技術相談室】15：40～16：30
粒子径、ゼータ電位、膜厚のご質問・お悩みに個別でお応えいたします。
個別に各30分程度のご相談に応じさせて頂きます。
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【デモンストレーション】15：40～16：30
実機を使用した粒子径、ゼータ電位、膜厚測定のデモンストレーションをおこないます。
● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA |
【装置展示コーナー】12：30～16：30
● 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA |
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