nano tech 2018 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
2018年2月14日(水)から16日(金)まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2018 ―国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」が開催されます。
大塚電子では「粒子物性、材料評価、膜厚評価」の三つのカテゴリから装置を展示・紹介いたします。
また、新製品も出展いたしますので、ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
●名 称 | |
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●会 期 | 2018年2月14日(水)~16日(金) 10:00~17:00 |
●会 場 | 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東4・5・6ホール |
●入場料 | 3,000円 |
●主 催 | nano tech 実行委員会 |
出展ブース「東4ホール 4B-12」
■ 出展製品
【新製品!!】多検体ナノ粒子径測定
・この1台で手軽に5検体連続測定 |
粒子径+ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。そして新たに“簡単測定モード”が搭載されました。
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量子ドット材料は粒子径によって発光波長が変わる
粒子径・分散安定性・蛍光特性がわかる
量子効率測定システム QE series + 蛍光体(粉体、液体、固体)の絶対量子効率を瞬時に測定できます。QE-2100は温度依存性測定や紫外~近赤外の広い波長範囲にも対応可能です。 |
結晶化温度・速度・球晶径をリアルタイムで評価
高分子相構造解析システム 高分子材料のスピノーダル分解過程の相転移温度や相関長評価、機能性フィルムの内部構造評価、結晶性高分子の結晶化評価をリアルタイムで定量化可能です。 |
エリプソメータに匹敵する高精度・高速・手軽さ
色付き試料、極薄膜などのナノ薄膜の多層膜評価を非破壊・非接触で測定。1ポイント1秒の高速測定でストレスフリーな測定を実現。簡単に解析できる楽々解析ウイザードを搭載。
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セミナー情報
ブース内セミナー
弊社ブース内(東4ホール 4B-12)にて毎日開催いたします。
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≪新製品≫ 多検体ナノ粒子径測定システム「nanoSAQLA」のご紹介
10:10 / 11:10 / 12:10 / 13:40 / 14:40 / 15:40
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ゼータ電位・粒径・分子量測定システム「ELSZ-2000 series」のご紹介
10:40 / 11:40 / 13:10 / 14:10 / 15:10 / 16:10
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