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メカトロテック ジャパン2017
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
2017年10月18日（水）から21日（土）まで、ポートメッセなごやで「メカトロテックジャパン2017」が開催されます。
大塚電子では、「表面処理の耐摩耗・品質向上・安心安全をサポート！“試料の形状やサイズを問わない、非接触・非破壊” 膜厚・膜質解析」をテーマに下記の装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
| ● 名 称 | |
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| ● 会 期 | 2017年10月18日（水）～21日（土） 10:00～17:00 （金曜は19:00まで、最終日は16:00まで） |
| ● 会 場 | |
| ● 入 場 料 | 1,000円（招待券持参者、Webによる事前登録者および学生は無料） |
出展ブース 1号館(南西) 1C09
出展製品
微細加工の成膜の品質管理に
顕微分光膜厚計 OPTM series
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数nmの薄膜から数百μmの厚膜までカバー DLCなどコーティング膜の厚みを1秒で測定することができる装置です。初心者でも簡単に測定できるソフトウェア搭載。
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大型・複雑な形状の成膜の品質管理に
マルチチャンネル分光器 MCPD series
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サブμmの薄膜からサブmmの厚膜までカバー 複雑な部位、移動できない物にも届く、フレキシブルファイバーで高精度な測定を実現。紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。
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パネル展示
素材を選ばず簡単測定
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非接触厚み計 従来困難とされていた様々なサンプルの測定を非接触・非破壊で簡単に行うことができます。
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めっき液や電池材の分析に最適
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
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陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる物性のイオンを一斉に分析できます。試料の調製が簡単かつ微量で短時間・高分解能な分析が可能です。 |
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● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series
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ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。 |
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