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JASIS 2017
2017年9月6日（水）から8日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2017」が開催されます。
弊社は「大塚電子だからできる“光散乱/光計測”技術のご提案」をテーマに下記の装置を展示・紹介いたします。
ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、新技術説明会（セミナー）もおこないます。（詳細は下記をご覧ください）
お気軽にご参加ください。
| ●名 称 | |
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| ●会 期 | 2017年9月6日（水）～8日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 幕張メッセ国際展示場 |
| ●入場料 | 無料 |
| ● 主 催 |
出展ブース「6ホール 6B-703」、「6ホール 6B-801」
■ 出展製品
リアルタイムに高分子の構造変化を定量的に追跡
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高分子材料のスピノーダル分解過程の相転移温度や相関長評価、機能性フィルムの内部構造評価、結晶性高分子の結晶化評価をリアルタイムで定量化可能です。
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希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+pHイトレータシステム
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ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。そして新たに“簡単測定モード”が搭載されました。
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陰イオンや陽イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
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陰イオン、陽イオン、有機酸、アミノ酸、糖などの異なる物性のイオンを一斉に分析できます。試料の調製が簡単かつ微量で短時間・高分解能な分析が可能です。
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ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 + オートサンプラー
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希薄系から濃厚系（原液により近い状態）まで、幅広い濃度範囲で粒子径が測定できます。コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
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非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒
● 顕微分光膜厚計 OPTM series
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半導体材料やフイルム、光学材料などの基材から多層コート膜の厚みを非破壊・非接触で高速に測定します。3μmの微小領域測定が可能で、絶対反射率、光学定数測定も測定できます。簡単に解析できる楽々解析ウイザードを搭載しています。
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紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案
● マルチチャンネル分光器 MCPD series
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紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。最小5msで分光スペクトルの測定が可能です。
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NIR・一重項酸素（活性酸素）を発光で検出可能
● 高感度NIR量子効率測定システム QE-5000
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一重項酸素（活性酸素）を測定できます。また、量子ドット、蛍光プローブ、色素増感剤などの量子効率測定も可能です。
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新技術説明会
併催の「新技術説明会」では以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
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