ME機器	ME機器
分析機器	ゼータ電位粒子径・粒子径分布分子量示差屈折率キャピラリー電気泳動球晶径・相関長遺伝子解析
計測機器	分光関連機器膜厚計・厚み計インプロセス用評価機器機能材料評価機器フィルム評価機器半導体評価機器光源照明評価機器 FPD関連評価機器

膜厚測定技術セミナー in 大阪

無事終了いたしました。多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

本セミナーでは、コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。

大塚電子では、ナノ～ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。
また、完全リニューアルされた新製品の『顕微分光膜厚計　OPTM series』を用いて装置のデモンストーションを行います。
お気軽にご参加ください。

膜厚測定技術セミナープログラム

【受付開始】13：00

光学干渉式膜厚計の基礎とアプリケーションのご紹介

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。大塚電子では、ナノ～ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。

コーティング膜、多層膜、フィルム、半導体などの膜厚を非接触・非破壊・高速で測定可能な光学干渉式膜厚計の原理とアプリケーションをご紹介いたします。
大塚電子では、ナノ～ミリ単位の、幅広い膜厚に対応した機種をラインナップしております。

顕微分光膜厚計 OPTM series	完全リニューアルされた新製品『顕微分光膜厚計　OPTM series』を用いて装置のデモンストーションを行います。