ME機器	ME機器
分析機器	ゼータ電位粒子径・粒子径分布分子量示差屈折率キャピラリー電気泳動球晶径・相関長遺伝子解析
計測機器	分光関連機器膜厚計・厚み計インプロセス用評価機器機能材料評価機器フィルム評価機器半導体評価機器光源照明評価機器 FPD関連評価機器

OTEX おかやまテクノロジー展 2017

無事終了いたしました。多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

1月18日（水）から1月19日（木）まで、コンベックス岡山で「OTEX おかやまテクノロジー展 2017」が開催されます。
本展示会では、株式会社大熊様のブースの一部に弊社の製品を展示いたします。

【実機展示】
　●「R&Dから品質管理まで幅広いニーズに応えるナノ粒子の粒子径・分散評価」
　　ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series
　●「試料の形状・サイズを問わず、非接触・非破壊で膜厚・膜質解析」
　　顕微分光膜計OPTM series

【パネル展示】
　●「陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析できる」
　　キャピラリ電気泳動システムAgilent 7100

各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
　■ブース：株式会社大熊様ブース内

※入場料は無料となっています。詳しくは、「OTEX おかやまテクノロジー展 2017」公式ホームページをご覧ください。

出展ブース　株式会社大熊様出展ブース内　

出展製品

＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞

	ナノ粒子の分散・凝集・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。そして新たに“簡単測定モード”が搭載されました。

＜これからは非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒！＞

	DLCなどコーティング膜の厚みを1秒で測定することができる装置です。初心者でも簡単に測定できるソフトウェア搭載。

パネル展示

＜陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能＞

	陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。