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第4回 [関西]高機能フィルム展

無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

10月5日(水)から7日(金)まで、インテックス大阪で「第4回 [関西]高機能フィルム展」が開催されます。

本展示会では、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性を、高精度に評価する装置を展示・紹介します。

さらに今回は、新製品『顕微分光膜厚計 OPTM series』を展示します。
「測定時間1秒」という高速性!、誰にでも「簡単に測定可能」という手軽さ!
ぜひ弊社ブースにて実機をご覧ください。

展示会にお越しの際は、ぜひ弊社ブース42-36(6号館A会場)へお立ち寄りください。
各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

● 名  称

第4回 [関西]高機能フィルム展 ~フィルムテック大阪~

● 会  期

2016年10月5日(水)~7日(金) 10:00~18:00 (最終日のみ17:00閉場)

● 会  場

インテックス大阪

● 主  催

リードエグジビジョンジャパン株式会社

出展ブース 6号館A会場(42-36)

出展ブース 6号館A会場(42-36)

出展製品

<これからは非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒!>

● 顕微分光膜厚計 OPTM series

● 顕微分光膜厚計 OPTM series

各種フィルムやPET、ウェーハなどの基材からコーティング膜の厚みを非破壊・非接触・顕微・1秒/pointで測定することができる装置です。初めての方でも簡単に測定できるソフトウェアを搭載しています。

インライン計測システム

トラバースタイプ
弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
(写真:トラバースタイプ)
 
タッチパネル、ITO、電子ペーパ、太陽電池用シート、燃料電池用フィルム、包装用フィルム、偏光フィルム、ARフィルム、位相差フィルム、フォトマスク、ガラス、代替樹脂など

【 膜厚測定 】
  製造ライン上でリアルタイム測定!遠隔測定・多点測定に対応。

● 組み込み型膜厚モニター FE-3

● 組み込み型膜厚モニター FE-3

ファイバープローブを介して反射率スペクトルを測定し、膜厚を計測するシステムです。検出器部は可視光を測定する連続波長測定分光器です。測定光源部は可視光を照射する白色LEDを採用しています。

 測定膜厚範囲  20nm~200μm
 測定波長範囲  430nm~1600nm
 測定項目  絶対反射率測定、多層膜厚解析(5層)、
 光学定数解析(n:屈折率、k:消衰係数)

 

【 Re.評価 】
  最短0.025秒(40Hz)の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現!

● 高速リタデーション測定装置 RE-200

● 高速リタデーション測定装置 RE-200

偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

 検出波長  550nm(他選択可能)
 検出器  偏光計測モジュール
 測定項目  リタデーション測定(測定範囲:0nm ~ 1μm)、
 主軸方位角度、楕円率・方位角、三次元屈折率など

 

【 透過反射 】
  紫外・可視・近赤外!広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案

● マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800/7700

● マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800/7700

偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

 検出波長  220nm ~ 1600nm
 検出器

 電子冷却型CCDイメージセンサ
 電子冷却型InGaAsリニアイメージセンサ

 測定項目  発光スペクトル測定、蛍光スペクトル測定、
 透過・吸収スペクトル測定、反射スペクトル測定

 

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