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技術セミナー in 広島
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてのセミナーを広島にて開催いたします。セミナーは3つのテーマをご用意しております。ご希望のセミナーのみのご参加も可能です。
是非、ご参加ください。
| ●名称 | 技術セミナーin広島 |
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| ●日時 | 2016年8月5日（金） 13：30～16：10 （受付13：00～） |
| ●会場 | 広島オフィスセンター 第2会議室 |
| ●参加費 | 無料 |
| ●担当者 | 森田 |
技術セミナープログラム
【受付開始】13：00～13：30
【開催のご挨拶】13：30～13：35
【Seminr１】13：35～14：30
粒径・ゼータ電位測定の原理とアプリケーションのご紹介
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム |
ナノからミクロンサイズのコロイド粒子、エマルジョンなどの分散・凝集、表面処理評価には、粒径、ゼータ電位測定が重要です。希薄系から懸濁溶液まで対応しており、さらにはフィルム、ウエハなど平板状試料の表面電位評価にも対応しております。近年では量子ドットなど蛍光材料評価にも展開しております。 |
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【休憩・質疑応答】14：20～14：30
【Seminar２】14：30～15：15
キャピラリー電気泳動測定の原理とアプリケーションのご紹介
キャピラリ電気泳動システム |
イオンクロ、液クロ、ICP、原子吸光と比較して、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプルの前処理がほとんどいらず、消耗品も低額で済む優れた分離分析方法です。陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析可能です。各業界のアプリケーションをご紹介します。 |
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【休憩・質疑応答】15：15～15：25
【Seminar３】15：25～16：10
完全リニューアルされた膜厚計とフィルム、
半導体材料、光学材料のアプリケーションのご紹介
 顕微分光膜厚計 |
R&D、品質管理、組込用途で楽々対応が可能な非破壊・非接触の新しい膜厚計の詳細と機能性フィルムなどに求められる光学特性評価（膜厚、位相差、反射率、透過率、色、蛍光、量子効率）に最適なMCPDアプリケーションを幅広くご紹介します。 |
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【装置展示コーナー】13：00～16：10
【ゼータ電位・粒径・分子量測定システム】
従来からの希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置
●ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series
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従来からの希薄溶液～濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。
粒子径測定範囲（0.6nm～10μm）、濃度範囲（0.00001%～40%）に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした最小容量130μL～のディスポーザブルセルで測定が可能です。 また新たに0～90℃の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性・相転移温度解析が可能です。 ●測定項目
●測定範囲
*1（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸： ～ 40%）
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【キャピラリー電気泳動】
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
●キャピラリ電気泳動装置 Agilent 7100
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陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
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【顕微分光膜厚計】
これからは非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒！
●顕微分光膜厚計 OP series
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・ 反射分光膜厚計FE-3000の後継機種 |
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