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第7回 高機能フィルム展 ～フィルムテック ジャパン～
4月6日（水）から8日（金）まで、東京ビックサイトで「第7回 高機能フィルム展 ～フィルムテック ジャパン～」が開催されます。
本展示会では、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置を展示・紹介します。
今回は、新しい顕微分光膜厚計を参考出品いたします。その他、反射率スペクトルをリアルタイムに測定可能な「組み込み型膜厚モニター FE-3/SF-3」と、最速0.025秒（40Hz)の高速タクトタイムを実現した「インライン高速リタデーションモニター RE-200」もご紹介します。
各種資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、出展社セミナーでは「大塚電子の提案するFilm Total Solutionと新製品膜厚計の紹介」というタイトルで講演もおこないます。本セミナーでは、今回あたらしく開発した「顕微分光膜厚計」の新機能と魅力についてご紹介いたします。
こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
| ● 名 称 | |
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| ● 会 期 | 2016年4月6日（水）～8日（金） 10:00～18:00 （最終日のみ17:00閉場） |
| ● 会 場 | |
| ● 主 催 |
出展ブース E16-36(東5ホール)
出展製品
【 膜厚評価 】
これからは非接触、非破壊、顕微で測定時間1秒！
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・ 反射分光膜厚計FE-3000の後継機種 |
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【 膜厚測定 】
製造ライン上でリアルタイム測定！遠隔測定・多点測定に対応。
● 組み込み型膜厚モニター FE-3
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ファイバープローブを介して反射率スペクトルを測定し、膜厚を計測するシステムです。検出器部は可視光を測定する連続波長測定分光器です。測定光源部は可視光を照射する白色LEDを採用しています。
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【 Re.評価 】
最短0.025秒（40Hz）の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現！
● 高速リタデーション測定装置 RE-200
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偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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【 透過・反射 】
広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案
● 瞬間マルチ測光システム MCPD-9800/6800/7700
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偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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インライン計測システム
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弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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セミナー情報
出展社による製品・技術セミナー
出展社による製品・技術セミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
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