Close
nano tech 2016 第15回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
無事終了いたしました。 多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。
1月27日（水）から29日（金）まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2016 第15回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ダイナミック光散乱光度計、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、キャピラリ電気泳動システム、量子効率測定システム、膜厚モニター、マルチチャンネル分光器を展示いたします。（東4ホール 4B-09）
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、シーズ＆ニーズセミナーでは「光散乱法によるナノ粒子の分散評価および分散剤の物性評価」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
| ●名 称 | |
|---|---|
| ●会 期 | 2016年1月27日（水）～29日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東4・5・6ホール |
| ●入場料 | 3,000円 |
| ●主 催 | nano tech 実行委員会 |
出展ブース「東4ホール 4B-09」
■ 出展製品
＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞
● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000 series+ELSZ-PT
|
コロイド粒子の分散・凝集性・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。
*（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸： ～ 40%） |
|---|
＜粒子径・分子量測定＞
● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000
|
動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布（粒径・粒径分布）測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。
|
|---|
＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 + オートサンプラー
|
希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
|
|---|
＜陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能＞
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
|
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。 微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。
*極性逆転可能 |
|---|
＜超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定＞
● 量子効率測定システム QE-2000
|
● 瞬時に絶対量子効率（絶対量子収率）の測定が可能です。
|
|---|
＜小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！＞
● 膜厚モニター FE-300
|
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
*1 光学的膜厚：nd |
|---|
＜紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案＞
● マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800/7700
|
偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
|
|---|
セミナー情報
シーズ＆ニーズセミナー
併催のシーズ＆ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。 ぜひご聴講ください。
|
ブース内セミナー
会期中は毎日、以下の内容でブース内にてセミナーをおこないます。
こちらもぜひご聴講ください。
|
ホーム
