ME機器	ME機器
分析機器	ゼータ電位粒子径・粒子径分布分子量示差屈折率キャピラリー電気泳動球晶径・相関長遺伝子解析
計測機器	分光関連機器膜厚計・厚み計インプロセス用評価機器機能材料評価機器フィルム評価機器半導体評価機器光源照明評価機器 FPD関連評価機器

JASIS 2015

無事終了いたしました。多数のご参加を頂き、誠にありがとうございました。

JASIS 2015（幕張メッセ）にて、弊社製品の展示および分析技術をご紹介いたします。
　9月3日（木）13:20～14:10 ホテルニューオータニ幕張 N-5室、
　9月4日（金）15:30～16:20 アパホテル＆リゾートＡ-8室
にて新技術説明会もおこないます。ぜひご参加ください。

●名　称	JASIS 2015
●会　期	2015年9月2日（水）～4日（金） 10:00～17:00
●会　場	幕張メッセ 4～8ホール　出展ブース「5ホール 5A-602」
●入場料	無料　ただし、HPから事前登録が必要です。　事前登録はこちらのページからお申し込みください。
●主　催	一般社団法人日本分析機器工業会一般社団法人日本科学機器協会

出展ブース「5ホール 5A-602」

■ 出展製品

＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞

● ゼータ電位・粒径・分子量測定システム　ELSZ-2000 series+ELSZ-PT

コロイド粒子の分散・凝集性・相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径・粒子径分布、分子量を測定することが可能です。

ゼータ電位	-200 ～ 200mV
粒子径・粒度分布	0.6nm ～ 10000nm
分子量	360 ～ 20,000,000
対応濃度範囲	粒子径：0.00001 % （0.1ppm）～ 40 % * ゼータ電位：0.001%～40%td>

　*（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸：～ 40%）

＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞

● 濃厚系粒径アナライザー　FPAR-1000 + オートサンプラー

希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布	1nm ～ 5000nm （高感度仕様）
対応濃度範囲	0.001% ～ 10% （ラテックス112nmの場合）

＜陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能＞

● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。

測定波長範囲	190nm ～ 600nm
泳動電力 *	電圧： 0 ～ ±30kV 、電流： 0 ～ 300μA
サンプル温調制御	室温以下 10～60℃

　*極性逆転可能

＜粒子径・分子量測定＞

● ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布（粒径・粒径分布）測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定が可能です。

粒子径・粒度分布	1.4nm ～ 7000nm
重量平均分子量	3×10² ～ 2×10⁷
第二ビリアル係数	-1 ～ 20×10^-4 mol・cm³・g^-2

＜小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！＞

● 膜厚モニター FE-300

薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。

測定膜厚範囲 *1	10nm ～ 40um *2
測定波長範囲	300nm ～ 800nm *2
測定項目	絶対反射率測定、多層膜厚解析（5層）、光学定数解析

　*1 光学的膜厚：nd
　*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります

＜超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定＞

● 量子効率測定システム QE-2000

● 瞬時に絶対量子効率（絶対量子収率）の測定が可能です。
● 低迷光マルチチャンネル分光検出器の採用により、紫外域での迷光を大きく低減しています。
● 高い感度が要求される近赤外域の蛍光測定も可能です。

測定波長範囲	250nm ～ 1100nm
励起波長範囲	250nm ～ 800nm
測定項目	蛍光スペクトル測定、量子効率測定

＜紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案＞

● マルチチャンネル分光器　MCPD-9800/6800/7700

偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

検出波長	220nm ～ 1600nm
検出器	電子冷却型CCDイメージセンサ電子冷却型InGaAsリニアイメージセンサ
測定項目	発光スペクトル測定、蛍光スペクトル測定、透過・吸収スペクトル測定、反射スペクトル測定

新技術説明会

併催の「新技術説明会」では以下の内容でセミナーをおこないます。ぜひご聴講ください。

●テーマ	新製品ゼータ電位・粒径・分子量測定システム ELSZ-2000series 　－測定技術およびゼータ電位・粒径・分子量の評価方法のご紹介－
●対象製品	ゼータ電位・粒径・分子量測定システム（ELSZ-2000 series）
●日　　時	2015年9月3日（木） 13:20～14:10
●会　　場	ホテルニューオータニ幕張 N-5室

●テーマ	キャピラリー電気泳動基礎講座！　今さら聞けないCEの基礎、知りたかった分析ノウハウから　必見の最新アプリケーションまで！
●対象製品	キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
●日　　時	2015年9月4日（金） 15:30～16:20
●会　　場	アパホテル＆リゾートA-8室