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JASIS 関西 2025

2025年1月29日(水)から31日(金)まで、グランキューブ大阪(大阪府立国際会議場)で「JASIS 関西 2025」が開催されます。
大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK、スマート膜厚計 SM-100seriesを展示します。

ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。
皆様のご来場をお待ちしております。           

●名  称

JASIS 関西 2025

●会  期

2025年1月29日(水)~31日(金) 10:00~17:00

●会  場

グランキューブ大阪(大阪府立国際会議場)
 出展ブース「D-01」

●入場料

無料

事前入場登録をご利用ください)

● 主  催

一般社団法人日本分析機器工業会

一般社団法人日本科学機器協会

出展ブース「D-01」

出展ブース「D-01」

■出展製品

粒子径+ゼータ電位で分散・凝集状態がわかる

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo

ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定、分子量測定を可能にした装置です。新しい機能として高分解能を実現した多角度測定、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析が可能です。

従来の顕微鏡を超える性能と全く新しい観察・測定法を提供

光波動場三次元顕微鏡 MINUK

光波動場三次元顕微鏡 MINUK

光波動場三次元顕微鏡を使用することで、目視では見えない透明フィルムの透明な傷や異物を観察することが可能です。また深さ方向のスキャンなしで3次元形状を測定できます。後から表面の傷か内部にある傷かがわかります。

高精度で持ち運び可能な膜厚計

スマート膜厚計 SM-100series

スマート膜厚計 SM-100series

非破壊・非接触に対応し誰でも簡単に扱えるハンディタイプの膜厚計です。
光干渉法を原理とし高精度で最薄0.1μm、また最大3層まで検量線不要で膜厚測定が可能な装置です。

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