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お探ししているのは生産ラインでの自動検査でしょうか？
はい（インライン）
いいえ（据え置き）
わかりません
測定対象は光が通りにくいものでしょうか？
はい
いいえ
わかりません
フィルム基材の厚みを測定希望でしょうか？
はい
いいえ
わかりません
（インライン）膜厚全面抜けの無い検査を希望でしょうか?
はい
いいえ
わかりません
フィルム面内の膜厚分布（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）を高速測定可能な装置です。顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。
フィルム上のコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/ポイントの高速測定が可能です。また初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
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偏光解析（エリプソパラメータ取得（tanψ、cosΔ））や1nm以下の膜厚の測定をご希望でしょうか？
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はい
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膜厚以外に反射透過発光測定もできる汎用光学評価装置をご希望でしょうか？
はい
いいえ
わかりません
下記リンクよりお客様のサンプル情報（基材・測定対象膜の材質及びおおよその厚み）をご入力いただければ、
測定の可否および最適な機種について改めてご連絡させていただきます。
お問い合わせ
光学式により、フィルム製造工程においても非接触・非破壊でのフィルム基材（例：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど）厚み測定が可能であり、長いWD（ワークディスタンス）を実現し、機器の組み込みが可能です。サブミリオーダーの膜厚測定に最適で、散乱性の強いフィルムの測定も可能です。
光学式により、フィルム製造工程においても非接触・非破壊でのフィルム基材（例：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど）厚み測定が可能であり、長いWD（ワークディスタンス）を実現し、機器の組み込みが可能です。サブミリオーダーの膜厚測定に最適で、散乱性の強いフィルムの測定も可能です。
下記リンクよりお客様のサンプル情報（基材・測定対象膜の材質及びおおよその厚み）をご入力いただければ、
測定の可否および最適な機種について改めてご連絡させていただきます。
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光学式により、フィルム製造工程においても非接触・非破壊でのフィルム基材（例：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど）厚み測定が可能であり、長いWD（ワークディスタンス）を実現し、機器の組み込みが可能です。サブミリオーダーの膜厚測定に最適で、散乱性の強いフィルムの測定も可能です。
ポイントセンサーとラインセンサーの違いについては
Webで学ぶ「ラインスキャン膜厚計によるインライン膜厚計測」の
「従来の検査システムとの違いとメリット」をご参照ください。
詳しくはこちら
生産現場においてフィルムの膜厚分布（基材厚みPET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）を全幅・全長測定できる装置です。
独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.01秒毎の測定間隔で500mm幅（1台使用時）のフィルムの膜厚測定が可能です。
マルチチャンネル分光器（MCPD）、投受光用Y型ファイバー、そして豊富なオプションユニットの組み合わせによりインライン膜厚測定（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）に対応いたします。ファイバーのTD方向へのトラバース駆動による検査、あるいはファイバーの多点切替測定も可能です。フィルム製造工程における膜厚のリアルタイムモニターとしてお使いいただけます。
1nm前後の厚み測定であればOPTMで測定出来る可能性が十分ございます。
使い勝手のいいOPTMシリーズはいかがでしょうか？
フィルム面内の膜厚分布（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）を高速測定可能な装置です。顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。
フィルム上のコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/ポイントの高速測定が可能です。また初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
紫外可視（300～800nm）の波長領域でのエリプソパラメータ（tanψ、cosΔ）測定が可能なため、高精度な薄膜解析が可能です。測定角度の自動可変機構を実装させることにより、あらゆる種類の薄膜にも対応しております。従来の回転検光子法に加え、位相差板の自動脱着機構を設けることにより、測定精度を向上させました。
高精度な薄膜解析が可能な分光エリプソメトリーに加え、測定角度の自動可変機構を実装させることにより、あらゆる種類の薄膜にも対応しております。従来の回転検光子法に加え、位相差板の自動脱着機構を設けることにより、測定精度を向上させました。
OPTMシリーズの自動XYステージ仕様では精密な面内マッピング測定も可能です。
OPTMシリーズはいかがでしょうか？
フィルム面内の膜厚分布（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）を高速測定可能な装置です。顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。
フィルム上のコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/ポイントの高速測定が可能です。また初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
フィルムへの製膜（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）の研究開発や品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に漏れなく2次元測定できる装置です。全面を高速かつ高精度に測定可能です。
膜厚測定は専用装置化されたほうが使い勝手がいい場合もあります。
膜厚測定専用の装置であればOPTMシリーズはいかがでしょうか？
フィルム面内の膜厚分布（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）を高速測定可能な装置です。顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。
フィルム上のコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/ポイントの高速測定が可能です。また初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
マルチチャンネル分光器（MCPD）、投受光用Y型ファイバー、そして豊富なオプションユニットの組み合わせによりインライン膜厚測定（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）に対応いたします。ファイバーのTD方向へのトラバース駆動による検査、あるいはファイバーの多点切替測定も可能です。フィルム製造工程における膜厚のリアルタイムモニターとしてお使いいただけます。
高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。
必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの筺体を採用し、安定したデータの取得を実現しました。（基材厚み：PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVAなど および各種基材上のコート膜）低価格でありながらも絶対反射率の取得により、光学定数の解析も可能です。
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