【お詫び】当社ホームページアクセスの
不具合について

お客様各位

弊社Webサーバーにおいて障害が発生したことにより、
2023年6月13日(火) 1時頃(24時間表記)より、
ホームページへのアクセスができなくなっております。

お問い合わせは下記メールアドレスまで
ご連絡くださいますようお願い申し上げます。
復旧作業が完了次第改めてお知らせいたします。
この度はご迷惑をお掛けしており、誠に申し訳ございません。
どうぞよろしくお願い申し上げます。

製品情報

COMING SOON

MINUK
今まで見えなかったものが観える
光波動場三次元顕微鏡
MINUK
応用分野 機能性フィルム、半導体、バイオメディカル、化学工業など
特長

・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能

・1ショットで高さ方向の情報を取得

・フォーカス不要で高速測定が可能

・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能

分析機器

ELSZneo series
希薄系から濃厚系試料の
粒子径・ゼータ電位測定が可能
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム
ELSZneo series
特長

・粒子径測定範囲0.6nm~10μm(対応濃度0.00001~10%)

・セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

・生体模擬環境下でのゼータ電位測定が可能

・平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位が測定可能

・粒子濃度、マイクロレオロジー、ゲル網目構造解析が可能

nanoSAQLA
動的光散乱法で希釈系から濃厚系試料の
粒子径測定が可能
多検体ナノ粒子径測定システム
nanoSAQLA
特長

・粒子径測定範囲0.6nm~10μm(対応濃度0.00001~10%)

・5検体連続測定が可能

・約1分の高速測定が可能

・オートサンプラーを接続することで最大50検体連続測定が可能

PP-1000
小角光散乱法を用いて、
高分子の構造変化をリアルタイムに評価
高分子相構造解析システム
PP-1000
特長

・光散乱パターンからμm単位の高分子の大きさ・形状などの構造評価が可能

・温度変化による高速ダイナミクス測定が可能

・球晶径・相構造のダイナミクス解析が可能

Agilent 7100
陰イオン、陽イオン、有機酸、金属イオンなどを
一台で分析が可能
キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
特長

・対イオンや夾雑物の影響を受けにくく前処理がほとんど不要

・サンプルが微量でバッファに溶剤を使用しないため環境に優しい

・短時間・高分離能分析が可能

計測機器

OPTM series
高精度な絶対反射率測定を可能にした
顕微分光膜厚計
顕微分光膜厚計
OPTM series
特長

・高い膜厚値・反射率の繰り返し精度を実現

・紫外域が実現する極薄膜(1nm~)の測定が可能

・1ポイント(φ3μm~)1秒以内で高速測定が可能

・光干渉法により非接触・非破壊で測定が可能

MCPD series
紫外・可視・近赤外の光スペクトルを
高速・高感度に測定が可能
マルチチャンネル分光器
MCPD series
特長

・広いダイナミックレンジを有する分光器(露光時間 5msec~20sec)

・低迷光機能搭載により、当社従来機種と比べ迷光率を約1/5に低減

・スクランブルファイバーの採用により高再現性を実現

LS series
フィルムの全幅・全長測定を可能にした膜厚計
ラインスキャン膜厚計®
LS series
特長

・ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現

・最短10msで500mm幅の膜厚測定が可能(膜厚測定範囲:0.1μm~300μm)

・サンプルのバタつきによる影響を受けない測定が可能

・光干渉法により検量線不要の膜厚測定が可能

SF-3
非接触でウェーハや樹脂の厚みを高速・高精度に測定が可能
分光干渉式ウェーハ厚み計
SF-3
特長

・光学式により非接触・非破壊での厚み測定が可能

・高い測定再現性を実現

・高速でリアルタイムに研磨モニタが可能

・長いワークディスタンスを実現し、機器への組込みが容易

【お問い合わせ先】
大塚電子株式会社
メールアドレス:
【製品に関する電話・FAXでのお問い合わせ先】
・枚方本社(西日本エリア)
 TEL:072-855-8550 FAX:072-855-8557
・東京支店(東日本エリア)
 TEL:042-644-4951 FAX:042-644-4961
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