【お詫び】当社ホームページアクセスの
不具合について
お客様各位
弊社Webサーバーにおいて障害が発生したことにより、
2023年6月13日(火) 1時頃(24時間表記)より、
ホームページへのアクセスができなくなっております。
お問い合わせは下記メールアドレスまで
ご連絡くださいますようお願い申し上げます。
復旧作業が完了次第改めてお知らせいたします。
この度はご迷惑をお掛けしており、誠に申し訳ございません。
どうぞよろしくお願い申し上げます。
製品情報
COMING SOON

- 今まで見えなかったものが観える
- 光波動場三次元顕微鏡
- MINUK
応用分野 | 機能性フィルム、半導体、バイオメディカル、化学工業など |
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特長 |
・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで高さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 |
分析機器

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希薄系から濃厚系試料の
粒子径・ゼータ電位測定が可能 - ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム
- ELSZneo series
特長 |
・粒子径測定範囲0.6nm~10μm(対応濃度0.00001~10%) ・セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供 ・生体模擬環境下でのゼータ電位測定が可能 ・平板状・フィルム状サンプルのゼータ電位が測定可能 ・粒子濃度、マイクロレオロジー、ゲル網目構造解析が可能 |
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動的光散乱法で希釈系から濃厚系試料の
粒子径測定が可能 - 多検体ナノ粒子径測定システム
- nanoSAQLA
特長 |
・粒子径測定範囲0.6nm~10μm(対応濃度0.00001~10%) ・5検体連続測定が可能 ・約1分の高速測定が可能 ・オートサンプラーを接続することで最大50検体連続測定が可能 |
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小角光散乱法を用いて、
高分子の構造変化をリアルタイムに評価 - 高分子相構造解析システム
- PP-1000
特長 |
・光散乱パターンからμm単位の高分子の大きさ・形状などの構造評価が可能 ・温度変化による高速ダイナミクス測定が可能 ・球晶径・相構造のダイナミクス解析が可能 |
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陰イオン、陽イオン、有機酸、金属イオンなどを
一台で分析が可能 - キャピラリ電気泳動システム
- Agilent 7100
特長 |
・対イオンや夾雑物の影響を受けにくく前処理がほとんど不要 ・サンプルが微量でバッファに溶剤を使用しないため環境に優しい ・短時間・高分離能分析が可能 |
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計測機器

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高精度な絶対反射率測定を可能にした
顕微分光膜厚計 - 顕微分光膜厚計
- OPTM series
特長 |
・高い膜厚値・反射率の繰り返し精度を実現 ・紫外域が実現する極薄膜(1nm~)の測定が可能 ・1ポイント(φ3μm~)1秒以内で高速測定が可能 ・光干渉法により非接触・非破壊で測定が可能 |
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紫外・可視・近赤外の光スペクトルを
高速・高感度に測定が可能 - マルチチャンネル分光器
- MCPD series
特長 |
・広いダイナミックレンジを有する分光器(露光時間 5msec~20sec) ・低迷光機能搭載により、当社従来機種と比べ迷光率を約1/5に低減 ・スクランブルファイバーの採用により高再現性を実現 |
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- フィルムの全幅・全長測定を可能にした膜厚計
- ラインスキャン膜厚計®
- LS series
特長 |
・ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現 ・最短10msで500mm幅の膜厚測定が可能(膜厚測定範囲:0.1μm~300μm) ・サンプルのバタつきによる影響を受けない測定が可能 ・光干渉法により検量線不要の膜厚測定が可能 |
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- 非接触でウェーハや樹脂の厚みを高速・高精度に測定が可能
- 分光干渉式ウェーハ厚み計
- SF-3
特長 |
・光学式により非接触・非破壊での厚み測定が可能 ・高い測定再現性を実現 ・高速でリアルタイムに研磨モニタが可能 ・長いワークディスタンスを実現し、機器への組込みが容易 |
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- 【お問い合わせ先】
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大塚電子株式会社
メールアドレス:
- 【製品に関する電話・FAXでのお問い合わせ先】
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・枚方本社(西日本エリア)
TEL:072-855-8550 FAX:072-855-8557
・東京支店(東日本エリア)
TEL:042-644-4951 FAX:042-644-4961