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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本展示会では、さまざまな分野で利用される高機能性フィルムの光学特性評価装置を展示・紹介します。
今回は、外観をリニューアルしてさらに使い勝手が向上した「組み込み型膜厚モニター FE-3」と、最短0.025秒の高速タクトタイムを実現した「インライン高速リタデーションモニター RE-200」をご紹介します。また、インラインに最適な装置をご提案します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（38-23）へお立ち寄りください。
今回は、外観をリニューアルしてさらに使い勝手が向上した「組み込み型膜厚モニター FE-3」と、最短0.025秒の高速タクトタイムを実現した「インライン高速リタデーションモニター RE-200」をご紹介します。また、インラインに最適な装置をご提案します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（38-23）へお立ち寄りください。
| ●名 称 | 第5回 高機能フィルム展 -フィルムテック ジャパン- |
| ●会 期 | 2014年4月16日（水）～18日（金） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東2ホール |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
| ●同時開催 | 第24回 ファインテックジャパン Photonix 2014 第3回 高機能プラスチック展 第1回 高機能 金属展 |
| 【 膜厚評価 】 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
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● 膜厚モニター FE-300 小型・低価格！簡単操作で”非接触”膜厚測定ができます。薄膜から厚膜まで幅広い膜厚に対応しています。非干渉層、傾斜層、超格子層を含む多彩なサンプルの膜厚測定と光学定数解析が可能です。また偏光干渉ヘッドを搭載したフィルム専用機もラインアップしています。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
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 弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
（写真：トラバースタイプ）
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| 【 膜厚測定 】 製造ライン上でリアルタイム測定！遠隔測定・多点測定に対応。 |
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● 組み込み型膜厚モニター FE-3 ファイバープローブを介して反射率スペクトルを測定し、膜厚を計測するシステムです。
検出器部は可視光を測定する連続波長測定分光器です。測定光源部は可視光を照射する白色LEDを採用しています。
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| 【 Re.評価 】 最短0.025秒（40Hz）の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現！ |
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● インライン高速リタデーションモニター RE-200  偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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| 【 透過反射 】 紫外・可視・近赤外！広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案 |
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● インライン分光透過・反射モニター 紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。最小5msでスペクトルの測定が可能です。標準装備のファイバーを用いてサンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応することができます。
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