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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
実際の測定例などをパネル等でもご紹介しております。
ぜひ、ご参加ください。
実際の測定例などをパネル等でもご紹介しております。
ぜひ、ご参加ください。
| ●日 時 | 2014年3月7日（金） 13：00～17：00 （受付 12：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | 公益財団法人 三重北勢地域地場産業振興センター 4階研修室1・2 （地図はこちら） 住所：四日市市安島一丁目3番18号 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 山口・井口 TEL(072)855-8564 / FAX(072)850-9159 |
【受付開始】 （１２：３０～）
【開会のご挨拶】 （１３：００～１３：０５）
【Seminar１】 （１３：０５～１３：５５）
キャピラリー電気泳動の基礎から応用まで
～環境・工業・食品・医薬品分野で使用されるアプリケーションのご紹介
～環境・工業・食品・医薬品分野で使用されるアプリケーションのご紹介
キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
手軽にイオン分析ができるキャピラリ電気泳動装置「Agilent 7100」の測定原理と特長についてお話しします。また、河川水の分析をはじめ、芳香族化合物や脂肪酸の分析、その他のアプリケーションについてもご紹介します。
【Seminar２】 （１４：０５～１４：５５）
ゼータ電位を用いたコロイド粒子の安定性評価や固体表面電位の測定ご紹介
ゼータ電位・粒径測定システム
ELSZ-1000 series
粒子径・ゼータ電位測定は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。「ELSZ-1000」では、希薄溶液から濃厚溶液まで、幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位の測定が可能です。pHタイトレーションや有機溶媒、高塩濃度など様々な条件での測定も可能です。また、フィルムや基板などの平板状サンプルのゼータ電位測定により、平板状サンプルと粒子との相互作用の評価も可能です。これらの測定についてご紹介します。
【Seminar３】 （１５：０５～１５：５０）
非接触膜厚測定装置における測定例のご紹介
反射分光膜厚計
分光干渉法により、非接触・非破壊かつ高速・高精度な膜厚測定（0.1ｎｍ～3ｍｍ）が可能です。また、薄膜・厚膜・着色膜・多層膜等の幅広い膜厚評価、屈折率・消衰係数の光学定数評価に対応しており、用途に応じてコンパクトで低価格な装置からハイエンドな装置まで取り揃えております。今回は機能性薄膜や樹脂基板の厚み評価、また有機EL材料に関しての測定知見も踏まえご紹介します。
【Seminar４】 （１６：００～１６：４５）
機能性フィルムの位相差測定、光軸測定
RETS-100
位相差フィルム・光学材料検査装置
近年、非常に高精度が要求されている光軸測定（3σ≦0.02°）、位相差測定にスポットを当てて、低リタデーション（0nm）からの測定が可能な回転検光子法を用いた装置と、フォトニック結晶を用いた偏光・位相差光軸測定装置の2種類をご紹介します。
【閉会のご挨拶】 （１６：４５～１６：５０）
| 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。 |
| 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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