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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。実際の測定例などをパネル等でも紹介しております。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
| ●日 時 | 2014年8月27日（水） 13：00～16：30 （受付12：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | 山口駅前ビル6階 会議室C（地図はこちら） JR静岡駅北口より徒歩3分 住所：静岡市葵区御幸町11-8 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 吉江・藤田 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
【受付開始】 （１２：３０～）
【Seminar１】 （１３：００～１３：４５）
キャピラリー電気泳動測定のご紹介
キャピラリ電気泳動システム
Agilent7100
キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。高価なカラムを使用せず、陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Seminar２】 （１３：４５～１４：３０）
粒子径・ゼータ電位測定のご紹介
ゼータ電位・粒径測定システム
ELSZ-1000 series
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。コロイド粒子の分散評価以外に、フィルムやウエハなど平板状試料の表面電位測定など様々な条件での測定が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【休憩・質疑応答】 （１４：３０～１５：００）
【Seminar３】 （１５：００～１５：４５）
非接触・非破壊の膜厚測定のご紹介（分光干渉法）
膜厚モニター
FE-300
半導体を中心として発展してきた分光干渉法は、今やフィルム材料、FPD材料、耐摩耗性DLCなど様々な分野で適用され、従来の枠組みを超えて活用されてきております。本公演では、分光干渉法による膜厚測定の原理を説明するとともに、大塚電子が培ってきたアプリケーション、経験ノウハウをご紹介します。
【Seminar４】 （１５：４５～１６：３０）
| 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。 |
| ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能 |
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定が可能です。
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