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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
実際の装置を稼動させてご説明をおこないます。また、サンプルによっては当日のデモ測定も可能です。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
実際の装置を稼動させてご説明をおこないます。また、サンプルによっては当日のデモ測定も可能です。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
| ●日 時 | 2014年7月15日（火） 11：00～16：30 （受付10：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | 札幌市民ホール 2階第1・第2会議室（地図はこちら） 地下鉄南北線 東豊線大道駅31番出口正面 住所：札幌市中央区北1条西1丁目 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 一原・和田 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
【Seminar 第1会議室】 （１１：００～１５：５０）
【Seminar１】 （１１：００～１２：００）
キャピラリー電気泳動測定のご紹介
キャピラリ電気泳動システム
Agilent7100
キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。高価なカラムを使用せず、陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Seminar２】 （１３：００～１４：００）
非接触・非破壊の膜厚測定のご紹介（分光干渉法）
膜厚モニター
FE-300
半導体を中心として発展してきた分光干渉法は、今やフィルム材料、FPD材料、耐摩耗性DLCなど様々な分野で適用され、従来の枠組みを超えて活用されてきております。本公演では、分光干渉法による膜厚測定の原理を説明するとともに、大塚電子が培ってきたアプリケーション、経験ノウハウをご紹介します。
【Seminar３】 （１４：１０～１５：１０）
粒子径・ゼータ電位測定のご紹介
ゼータ電位・粒径測定システム
ELSZ-1000 series
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。コロイド粒子の分散評価以外に、フィルムやウエハなど平板状試料の表面電位測定など様々な条件での測定が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Seminar４】 （１５：１０～１５：５０）
フロー式画像解析粒子径・形状測定のご紹介
フロー式画像解析粒子径・形状測定装置
Particle Insight
ミクロンオーダー以上の粒子を、高速・高分解能でリアルタイム測定が可能です。粒子を装置内で循環させる際に、粒子がランダムに回転することで様々な角度の投影像を知ることができます。複数の形状パラメータを選択することができ、粒子径と粒子形状を画像で解析することができます。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Demonstration 第2会議室】 （１０：３０～１６：３０）
「1.キャピラリー電気泳動」、「2.膜厚測定」、「3.粒子径・ゼータ電位、平板表面電位」、「4.フロー式画像解析粒子径・形状測定」４つのデモンストレーションを行います。
時間内にすべてのデモをご覧頂くことも可能です。ただし、各技術セミナー時間中は、それに関連するデモはおこなわず、装置展示のみとさせて頂きます。
◎ キャピラリー電気泳動測定
標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なため お預かりして後日結果をご報告させて頂きます。
◎ 膜厚測定
標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
当日のデモが可能です。事前にサンプル情報をご連絡下さい。
◎ 粒子径・ゼータ電位（平板表面電位）測定
標準サンプルを使用して測定の流れをご説明します。
水系サンプルでしたら当日のデモが可能です。有機溶媒系サンプルの場合、会場の関係でお預かりして後日結果を
ご報告させて頂きます。
平板サンプル測定をご依頼の場合は事前にご連絡下さい。
◎ フロー式画像解析粒子径・形状測定
標準サンプルを使用して測定の流れをご説明します。
サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なため、お預かりして後日結果をご報告させて頂きます。
※デモンストレーション時は、サンプル測定の質問も承ります
標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なため お預かりして後日結果をご報告させて頂きます。
◎ 膜厚測定
標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
当日のデモが可能です。事前にサンプル情報をご連絡下さい。
◎ 粒子径・ゼータ電位（平板表面電位）測定
標準サンプルを使用して測定の流れをご説明します。
水系サンプルでしたら当日のデモが可能です。有機溶媒系サンプルの場合、会場の関係でお預かりして後日結果を
ご報告させて頂きます。
平板サンプル測定をご依頼の場合は事前にご連絡下さい。
◎ フロー式画像解析粒子径・形状測定
標準サンプルを使用して測定の流れをご説明します。
サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なため、お預かりして後日結果をご報告させて頂きます。
※デモンストレーション時は、サンプル測定の質問も承ります
| 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。 |
| 粒子径や形状のフロー式画像解析が可能 |
● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight Particle Insight は最新のフロー式画像解析装置です。 |
| ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能 |
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定が可能です。
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