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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
実際の測定例などをパネル等でもご紹介しております。
ぜひ、ご参加ください。
実際の測定例などをパネル等でもご紹介しております。
ぜひ、ご参加ください。
| ●日 時 | 2014年3月5日（水） 13：00～17：30 （受付 12：45～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | CIVI研修センター 新大阪東 E701（展示場）、E704（セミナー） （地図はこちら） 住所：大阪市東淀川区東中島1丁目19番4号 新大阪NLCビル 5･6･7F |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 網谷・川上 TEL(072)855-8564 / FAX(072)850-9159 |
【受付開始】 （１２：４５～）
【開会のご挨拶】 （１３：００～１３：１０）
【Seminar１】 （１３：１０～１４：００）
キャピラリー電気泳動の基礎から応用まで
～環境・工業・食品・医薬品分野で使用されるアプリケーションのご紹介
～環境・工業・食品・医薬品分野で使用されるアプリケーションのご紹介
Agilet 7100
キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
手軽にイオン分析ができるキャピラリ電気泳動装置「Agilent 7100」の測定原理と特長についてお話しします。また、河川水の分析をはじめ、芳香族化合物や脂肪酸の分析、その他のアプリケーションについてもご紹介します。
【Seminar２】 （１４：１０～１５：００）
ゼータ電位を用いたコロイド粒子の安定性評価や固体表面電位の測定ご紹介
ELSZ-1000
ゼータ電位・粒径測定システム
ELSZ-1000 series
粒子径・ゼータ電位測定は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。「ELSZ-1000」では、希薄溶液から濃厚溶液まで、幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位の測定が可能です。pHタイトレーションや有機溶媒、高塩濃度など様々な条件での測定も可能です。また、フィルムや基板などの平板状サンプルのゼータ電位測定により、平板状サンプルと粒子との相互作用の評価も可能です。これらの測定についてご紹介します。
【Seminar３】 （１５：１０～１６：００）
非接触膜厚計のアプリケーションご紹介
FE-3000
反射分光膜厚計
FE-3000
分光干渉法により、非接触・非破壊かつ高速・高精度な膜厚測定（0.1nm～3mm）が可能です。また、薄膜・厚膜・着色膜・多層膜等の幅広い膜厚評価、屈折率・消衰係数の光学定数評価に対応しており、用途に応じてコンパクトで低価格な装置からハイエンドな装置まで取り揃えております。今回は機能性薄膜や樹脂基板の厚み評価、その他のアプリケーションをご紹介します。
【Seminar４】 （１６：１０～１７：００）
LED照明の評価と工業会指定試験制度のご紹介
JNLA試験サービス
JNLA試験サービス
LED電球などの適切な普及には、正しい光計測による省エネ性能を消費者に提示する事が重要です。2014年11月以降にトップランナー制度のラベリングが義務付けられ、消費者が省エネ基準を満たしている商品かどうかの判断ができるようになります。大塚電子㈱光計測評価センターは、ＪＮＬＡ制度に基づく工業会指定試験所として登録されました。今回、これらを踏まえた光計測についてご紹介します。
| 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
| ● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。 |
| 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
| ●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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