【Seminar 第3研修室】 (11:00~16:05)
【Seminar1】 (11:00~12:00)
キャピラリー電気泳動測定のご紹介
Agilent7100
キャピラリ電気泳動システム
Agilent7100
キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や泳動液消費量が最小限で済む優れた分離分析法です。高価なカラムを使用せず、陽イオン、陰イオン、有機酸、金属イオン、アミノ酸、糖、タンパクなど幅広い成分を1台の装置で分析が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Seminar2】 (13:00~14:00)
粒子径・ゼータ電位測定のご紹介
ELSZ-1000
ゼータ電位・粒径測定システム
ELSZ-1000 series
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で測定が可能です。コロイド粒子の分散評価以外に、フィルムやウエハなど平板状試料の表面電位測定など様々な条件での測定が可能です。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Seminar3】 (14:00~14:30)
フロー式画像解析粒子径・形状測定のご紹介
Particle Insight
フロー式画像解析粒子径・形状測定装置
Particle Insight
ミクロンオーダー以上の粒子を、高速・高分解能でリアルタイム測定が可能です。粒子を装置内で循環させる際に、粒子がランダムに回転することで様々な角度の
投影像を知ることができます。複数の形状パラメータを選択することができ、粒子径と粒子形状を画像で解析することができます。その原理やアプリケーションについてご紹介します。
【Seminar4】 (14:50~15:35)
非接触・非破壊の膜厚測定のご紹介(分光干渉法)
FE-300
膜厚モニター
FE-300
半導体を中心として発展してきた分光干渉法は、今やフィルム材料、FPD材料、耐摩耗性DLCなど様々な分野で適用され、従来の枠組みを超えて活用されてきており
ます。本公演では、分光干渉法による膜厚測定の原理を説明するとともに、大塚電子が培ってきたアプリケーション、経験ノウハウをご紹介します。
【Seminar5】 (15:35~16:05)
LED電球、トップランナー制度とJNLAについて
JNLA試験サービス
JNLA試験サービス
2013年11月より施行されておりますLED電球のトップランナー制度の移行期間が2014年11月をもって終了いたします。あらためてLED電球のトップランナー制度の概要及びそれに対するJNLA試験等大塚電子の取り組みをご紹介します。
【Demonstration 第2研修室】 (10:30~16:30)
「1.キャピラリー電気泳動」、「2.粒子径・ゼータ電位、平板表面電位」、「3.フロー式画像解析粒子径・形状測定」、「4.膜厚測定」4つのデモンストレーションを行います。
時間内にすべてのデモをご覧頂くことも可能です。ただし、各技術セミナー時間中は、それに関連するデモはおこなわず、装置展示のみとさせて頂きます。
◎ キャピラリー電気泳動測定
標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なため お預かりして後日結果をご報告させて頂きます。
◎ 粒子径・ゼータ電位(平板表面電位)測定
標準サンプルを使用して測定の流れをご説明します。
水系サンプルでしたら当日のデモが可能です。有機溶媒系サンプルの場合、会場の関係でお預かりして後日結果を
ご報告させて頂きます。
平板サンプル測定をご依頼の場合は事前にご連絡下さい。
◎ フロー式画像解析粒子径・形状測定
標準サンプルを使用して測定の流れをご説明します。
サンプル測定をご依頼の場合、条件検討が必要なため、お預かりして後日結果をご報告させて頂きます。
◎ 膜厚測定
標準サンプルを使用して測定原理や流れをご説明します。
当日のデモが可能です。事前にサンプル情報をご連絡下さい。
※デモンストレーション時は、サンプル測定の質問も承ります