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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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9月16日から 同志社大学京田辺キャンパスで「第74回 応用物理学会学術講演会」が行われます。
大塚電子は、「JSAP EXPO Autumn 2013」に出展します。 この展示会は、講演会の重要な一部であるポスターセッションと同じ会場で開催され、 最新機器と技術の情報交換や交流の場となっています。
弊社ブースでは、「量子効率測定システム QE-2000」と「膜厚モニター FE-300」の実機展示を行います。
学術講演会へお越しの際は、ぜひ付設展示会弊社ブースへもお立ち寄りください。
大塚電子は、「JSAP EXPO Autumn 2013」に出展します。 この展示会は、講演会の重要な一部であるポスターセッションと同じ会場で開催され、 最新機器と技術の情報交換や交流の場となっています。
弊社ブースでは、「量子効率測定システム QE-2000」と「膜厚モニター FE-300」の実機展示を行います。
学術講演会へお越しの際は、ぜひ付設展示会弊社ブースへもお立ち寄りください。
| ●名 称 | 第74回 応用物理学会学術講演会 JSAP EXPO Autumn 2013 |
| ●会 期 | 2013年9月16日（月）～20日（金） |
| ●会 場 | 同志社大学京田辺キャンパス |
| ●入場料 | 詳細は事務局にお問い合わせください。 |
| ●主 催 | （社）応用物理学会 |
| 相対量子効率測定から絶対量子効率測定へ | ||||||
● 量子効率測定システム QE-2000 瞬時に絶対量子効率（絶対量子収率）の測定ができます。粉体、溶液、固体（フィルム）、薄膜試料に対応しています。低迷光マルチチャンネル分光検出器により、紫外域での迷光を大きく低減しました。また、積分半球ユニットの採用により、明るい光学系を実現すると共に、その利点を活かした再励起蛍光補正により、精度の高い測定をおこなうことができます。
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| 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ | ||||||
● 膜厚モニター FE-300 小型・低価格！簡単操作で”非接触”膜厚測定ができます。薄膜から厚膜まで幅広い膜厚に対応しています。非干渉層、傾斜層、超格子層を含む多彩なサンプルの膜厚測定と光学定数解析が可能です。また偏光干渉ヘッドを搭載したフィルム専用機もラインアップしています。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
