ディスプレイ評価・検査機器、科学計測・分析機器、医療機器の分野でアプリケーション、プロダクトを提供
HOME>イベント>講習会情報>技術セミナー in 神奈川
大塚電子 ニュース
技術セミナー in 神奈川                                無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置とその測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
実際の装置を稼動させてご説明をおこないます。
ぜひ、ご参加ください。
ナノテクノロジー関連技術セミナー
日 時 2013年12月17日(火) 10:30~16:00 (受付10:00~)
費 用 無料
会 場 川崎市産業振興会館 第1・3研修室(地図はこちら)
  住所:神奈川県川崎市幸区堀川町66番地20
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 一原・永森
  TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961
技術セミナープログラム

 【受付開始】 (10:00~)
 【Seminar1】 (10:30~12:00)
キャピラリー電気泳動測定の原理とアプリケーションのご紹介
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
Agilent7100
   キャピラリ電気泳動システム
Agilent7100
キャピラリー電気泳動法は、高い分解能と分析の迅速さに加え、サンプル量や溶媒消費量が最小限で済む優れた分離分析手法です。
使いやすい機能と豊富なアプリケーションキットにより、誰でも簡単に測定が可能です。
高価なカラムを使用せず、陽イオンや陰イオン、有機酸、金属イオン、核酸、糖、タンパク質など異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
 【Seminar2】 (13:00~14:30)
粒子径・ゼータ電位測定の原理とアプリケーションのご紹介
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
ELSZ-1000
   ゼータ電位・粒径測定システム
ELSZ-1000 series
粒子径、ゼータ電位測定は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。希薄溶液から従来では測定困難であった濃厚溶液まで、幅広い濃度範囲で測定が可能です。フィルムなどの平板状サンプルのゼータ電位が測定できる平板セルユニットなど種々のセルユニットをオプションとして用意しており、様々な条件での測定が可能です。
 【Seminar3】 (14:40~16:00)
膜厚測定の原理とアプリケーションのご紹介
【膜厚評価】 小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! 膜厚モニター FE-300
FE-300
   膜厚モニター
FE-300
分光干渉法により、非接触・非破壊かつ高速・高精度な膜厚測定が可能です。また、薄膜から厚膜まで幅広い膜厚に対応しており、用途に応じてコンパクトで低価格な装置からハイエンドな顕微対応装置まで取り揃えております。様々な膜種の屈折率(n)、消衰係数(k)、膜厚(d)、反射率の評価が可能です。
 【Demonstration】 (10:00~16:30)
「1.キャピラリー電気泳動」、「2.粒子径・ゼータ電位」、「3.膜厚測定」、3つのデモンストレーションを行います。
ただし、各技術セミナー時間中は、それに関するデモは行わず、装置展示のみとさせて頂きます。

◎ キャピラリー電気泳動測定
   標準サンプルを使用して測定原理や操作の流れをご説明します。

◎ 粒子径・ゼータ電位測定
   標準サンプルを使用して測定原理や操作の流れをご説明します。

◎ 膜厚測定
   標準的なサンプルを使用して測定原理や操作の流れをご説明します。

※デモンストレーション時は、サンプル測定の質問も承ります
 
セミナー関連製品
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
● キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10000nm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μlのディスポーザブルセルで測定が可能です。

小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
● 膜厚モニター FE-300
【膜厚評価】 小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! 膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な分光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定
● 量子効率測定システム QE-2000
量子効率測定システム QE-2000
蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。


粒子径や形状のフロー式画像解析が可能
● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight
フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight

Particle Insight は最新のフロー式画像解析装置です。
粒子径だけでなく、形状も重要になる場合の用途に最適です。



 
機器展示
<機器展示>
  ● キャピラリ電気泳動システム
     Agilent7100
  ● ゼータ電位・粒径測定システム
     ELSZ-1000 series
  ● 膜厚モニター
     FE-300
  ● 量子効率測定システム
     QE-2000

<パネル展示>
  ● フロー式画像解析粒子径・形状測定装置
     Particle Insight

お申込     
お申込は終了させていただきました
copyright(c)otsuka electronics co.,ltd all rights reserved.