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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
2月15日（水）から17日（金）まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2012 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ELSZ用pHタイトレーターシステム、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、膜厚モニター、テラヘルツ分光システム、キャピラリ電気泳動システム を展示いたします。（東4ホールブースNo.B-01）
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、シーズ＆ニーズセミナーでは「光散乱技術が導く粒子物性評価の新展開」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ELSZ用pHタイトレーターシステム、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、膜厚モニター、テラヘルツ分光システム、キャピラリ電気泳動システム を展示いたします。（東4ホールブースNo.B-01）
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、シーズ＆ニーズセミナーでは「光散乱技術が導く粒子物性評価の新展開」というタイトルで講演をおこないます。こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
| ●名 称 | nano tech 2012 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 |  |
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| ●会 期 | 2012年2月15日（水）～17日（金） 10:00～17:00 | ||
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東4・5・6ホール | ||
| ●入場料 | 3,000円 （事前登録された方には、無料招待券が送付されます） 事前登録を希望される方は nano tech 2012 ホーム ページ内のこちらのページからお申し込みください。 |
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| ●主 催 | nano tech 実行委員会 | ||
| ●同時開催 | Inter Aqua 2012 , ASTEC 2012 ,
SURTECH 2012 , Convertech JAPAN 2012 , 新機能性材料展 2012 , プリンタブルエレクトロニクス 2012 , 環境電池展 2012 |
【 アポイントメント・シートについて 】
アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。
アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。
・ご来場の日時をご連絡いただければ、弊社ブースにて担当者がお待ち
しております。
・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
可能です。
・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に 粗品をお渡しいたします。
こちらより用紙をダウンロードしてご利用ください。
・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様に あったご提案を差し上げることも
可能です。
・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に 粗品をお渡しいたします。
こちらより用紙をダウンロードしてご利用ください。
| ＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞ | ||||||||
● ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定と平板・フィルム状試料の表面ゼータ電位測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。 ｐＨタイトレータと組合せることでｐＨや添加剤濃度に対するゼータ電位変化を自動測定することができます。
  ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。
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| ＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞ | ||||
● 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
 FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| ＜小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！＞ | ||||||
● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
| ＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞ | ||||
● テラヘルツ分光システム  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。
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| ＜陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能＞ | ||||||
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
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併催のシーズ＆ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。
ぜひご聴講ください。
| ●テ ー マ | 光散乱技術が導く粒子物性評価の新展開 |
| ●発表要旨 | ナノ粒子の粒子径測定やゼータ電位測定には、光散乱法が一般的によく使用されているが、光散乱測定では、その他、多くの情報を与えてくれる。本セミナーでは、光散乱測定の新しい物性評価方法として、偏光解消光動的光散乱測定法による針状物質（カーボンナノチューブ、ナノファイバーなど）の軸比の評価、電気泳動光散乱法による柔らかい粒子（細胞、球状高分子電解質など）の物性評価方法などを紹介する。 |
| ●対象製品 | ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ series） |
| ●日 時 | 2012年2月17日（金）14：00～14：45 |
| ●会 場 | シーズ＆ニーズセミナー A会場 |
