●名 称 | 第3回 高機能フィルム技術展 -フィルムテック ジャパン- |
●会 期 | 2012年4月11日(水)~13日(金) |
●会 場 | 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 東2ホール |
●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
●同時開催 | 第22回 ファインテックジャパン Photonix 2012 第1回 高機能プラスチック展 |
【 膜厚評価 】 小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! |
||||||
● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
弊社のコア技術である分光計測技術を最大限活用することで、製品品質の評価方法から製造ラインでの品質管理方法、さらに生産現場での用途や生産ライン状況に応じた最適な品質評価方法をご提案します。
(写真:トラバースタイプ)
|
||||||
【 膜厚測定 】 製造ライン上でリアルタイム測定!遠隔測定・多点測定に対応。 |
||||||
● 組み込み型膜厚モニター FE-3 ファイバープローブを介して反射率スペクトルを測定し、膜厚を計測するシステムです。
検出器部は可視光を測定する連続波長測定分光器です。測定光源部は可視光を照射する白色LEDを採用しています。
|
||||||
【 Re.評価 】 最短0.025秒(40Hz)の速さで低Re.と主軸方位角の同時測定を実現! |
||||||
● インライン高速リタデーションモニター RE-200 偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
|
||||||
【 透過反射 】 紫外・可視・近赤外!広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案 |
||||||
● インライン分光透過・反射モニター 紫外から近赤外領域に対応した多機能マルチチャンネル分光器を用いたシステムです。最小16msでスペクトルの測定が可能です。標準装備のファイバーを用いてサンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応することができます。
|
【 コントラスト計測 】 1200万:1のギガコントラスト測定が可能! |
||||
● ギガコントラストテスター GC-1 黒輝度3×10-5cd/m2という超低輝度測定を実現することにより、コントラスト比1200万:1を高速・高精度に測定することができます。LAN対応により、設置場所が離れたところでも測定が可能です。 液晶やプラズマなどフラットパネルディスプレイに対応可能です。
|