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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
9月25日（火）から27日（木）まで、パシフィコ横浜で「LED ジャパン 2012/Strategies in Light」がおこなわれます。
『LEDジャパン2012』は、LEDの製造にかかわる材料、設計、測定、製造技術とLEDの応用が一堂に会するイベントであり、毎年米国で開催されている高輝度LEDのカンファレンス・イベント『Strategies in Light』の日本版イベントとして、カンファレンスと展示会の2本立てで2008年より開催されています。
大塚電子は、『高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。IESNA LM-80に準拠したVEKTREX社製「LED寿命検査装置」を展示します。他に、「量子効率測定システム
QE-2000」、「高感度分光放射輝度計 HS series」、および光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定が可能な装置など、LED評価に最適なシステムをご紹介します。
弊社ブースへぜひお立ち寄りください。
| ●名 称 | LED ジャパン 2012 |
| ●会 期 | 2012年9月25日（水）～9月27日（木） |
| ●会 場 | パシフィコ横浜 |
| ●主 催 | 株式会社ICSコンベンションデザイン PennWell Corp. |
| ●同時開催 | BioOpto Japan 2012 InterOpto 2012 LaserTech 2012 |
| 【 光源評価 】 IESNA LM-80に準拠したLED寿命検査装置 |
● LED寿命検査装置 IESNA LM-80に準拠したVEKTREX社製 LED寿命検査装置です。
駆動電圧200Vを5μsで立ち上げ可能であり、高スルーレートで高出力LEDのON/OFFを制御することができます。恒温槽部は独自の温調機能を採用し、気流を抑えた温度管理が実現できます。 測定部には積分半球を採用することにより、温度制御機能を伴った全光束測定ができるほか、サンプルの脱着も容易に行なえます。さらに、点灯切り替えスイッチにより自動かつ高速測定も可能です。 |
| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測定システム QE-2000 蛍光スペクトルを積分球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
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| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（HaflMoon） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 輝度評価 】 超低輝度（0.005cd/m2）から高輝度（400,000cd/m2）！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ・輝度・色度・相関色温度測定に最適です。
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| 【 部材評価 】 進化したMCPD分光器！ MCPDシリーズ最上位機種登場！ |
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● 瞬間マルチ測光システム MCPD-9800 広いダイナミックレンジを有し、全光束測定に最適です。
低迷光機能搭載により、UV評価に最適。当社従来機種に比べて迷光率を約1/5に！
最短5msecから65sec*1までの露光時間、微弱光測定、高速測定、インライン測定など、幅広い測定に最適です。
スクランブルファイバーの採用により、高再現性を実現した軽量・コンパクトな縦置きタイプです。
*1 標準仕様では最長20sec
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