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大塚電子 ニュース
第4回 LED Next Stage 2012
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

3月6日(火)から9日(金)まで、東京ビックサイト 西ホールで「第4回 LED Next Stage 2012」が開催されます。
「LED Next Stage」は、LED照明器具・光源からLED素材・部品までを展示紹介し、LED照明に関する幅広い業種の最新情報・製品が集まる総合展示会です。
第4回目の開催となる今回は、(特非)LED照明推進協議会(JLEDS)との共同主催となります。

大塚電子は、JLEDSの特別コーナーに出展します。
弊社ブースでは、全光束、配光特性、輝度・照度など、トータル的にLED照明器具の光特性を評価する装置をご紹介します。
JCSS校正サービスについても承っておりますので、お気軽にご相談ください。

LED評価に関して、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース(LD1403)へお立ち寄りください。
名   称 第4回 LED Next Stage 2012
会   期 2012年3月6日(火)~9日(金)
会   場 東京国際展示場(東京ビッグサイト)
主   催 (特非)LED照明推進協議会(JLEDS)
日本経済新聞社
同時開催 JAPAN SHOP、建築・建材展、リテールテックJAPAN
NFC & Smart WORLD、SECURITY SHOW
出展ブース「LD1403」西1ホール
出展ブース「LD1403」西1ホール
出展製品
【 校正サービス 】
  計量法に基づく国家標準にトレーサブルで確実な校正サービスをご提供!
● JCSS校正サービス
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
照明器具や光源の性能を校正に評価するために、光特性の測定方法の規格化など、さまざまな標準化が国の内外を問わず進められています。
それらが要求する測光は、「光」のトレーサビリティーを基本にしています。
大塚電子は、国際MRA対応のJCSS認定事業者として、JCSS認定の高品質な校正技術によるサービスを提供します。
【 光源評価 】
  バックライトの評価も簡単により高精度に!
● 全光束測定システム(HaflMoon) HM series
全光束測定システム(HalfMoon) HM series
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

特許取得済み
波長範囲 220nm ~ 1600nm (用途に応じて波長範囲の選択が可能)
検出器 瞬間マルチ測光検出器(MCPD検出器)
測定項目 全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、相関色温度、
演色性評価数など

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