●日 時 | 2012年7月18日(水) 11:00~16:30 (受付10:30~) |
●費 用 | 無料 |
●会 場 | 札幌市民ホール (地図はこちら) 住所:札幌市中央区北1条西1丁目 |
●お申込 | お申込は終了させていただきました |
●担 当 | 一原・高田、西尾 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
●量子効率測定システム QE-2000![]() 蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。 |
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ-1000 series![]() 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~10000nm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした業界最小容量130μlのディスポーザブルセルで測定が可能です。
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ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能 |
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000![]() 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定が可能です。
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陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100![]() 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
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多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現! |
●反射分光膜厚計 FE-3000![]() マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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