イベント　展示会情報－nano tech 2011 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議出展のご案内- 大塚電子株式会社

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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

2月16日（水）から18日（金）まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2011国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム、ELSZ用pHタイトレーターシステム、卓上型超遠心機、濃厚系粒径アナライザー、FPAR用オートサンプラー、膜厚モニター、テラヘルツ分光システムを展示いたします（東4ホールブースNo.A-01）。
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

また、シーズ＆ニーズセミナーでは「光散乱技術が導く粒子物性評価の新展開」というタイトルで講演をおこないます。
こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
　

●名　称	nano tech 2011　国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
●会　期	2011年2月16日（水）～18日（金）　10:00～17:00
●会　場	東京国際展示場（東京ビッグサイト）　東4・5・6ホール
●入場料	3,000円　（事前登録された方には、無料招待券が送付されます）　事前登録を希望される方は nano tech 2011 ホーム　ページ内のこちらのページからお申し込みください。
●主　催	nano tech 実行委員会
●同時開催	Inter Aqua 2011, ナノバイオ Expo 2011 , ASTEC 2011 , METEC 2011, Printable Electronics 2011 , Convertech JAPAN 2011 , 新機能性材料展 2011 , 環境電池製造展 2011

【アポイントメント・シートについて】

アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。

　・ご来場の日時をご連絡いただければ、弊社ブースにて担当者がお待ちしております。
　・事前に当日の質問内容、ご要望をお聞かせいただければ、お客様にあったご提案を差し上げることも
　　可能です。
　・アポイントメントにお申し込みいただきますと、弊社ブースご来場時に粗品をお渡しいたします。

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＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞

● ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定と平板・フィルム状試料の表面ゼータ電位測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。
ｐＨタイトレータと組合せることでｐＨや添加剤濃度に対するゼータ電位変化を自動測定することができます。

ゼータ電位	-200 ～ 200mV
粒子径・粒度分布（Z-2仕様）	0.6nm ～ 7000nm
対応濃度範囲	0.001% ～ 40% *1
電気移動度	-20×10-4 ～ 20×10-4 cm2/s･V

*1（Latex112nm： 0.001 ～ 10%、タウロコール酸：～ 40%）

● ELSZ用pHタイトレーターシステム

ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。

● 卓上型超遠心機 Optima MAX-XP

最高回転数150,000rpmを提供する卓上型超遠心機Optima MAX-XPは、核酸・タンパク質からカーボンナノチューブまで幅広いサンプル分離に応用できます。

最高回転数	150,000rpm
最大遠心力	1,019,000g

＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞

● 濃厚系粒径アナライザー　FPAR-1000

希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布	1nm ～ 5000nm （高感度仕様）
対応濃度範囲	0.001% ～ 10% （ラテックス112nmの場合）

● FPAR用オートサンプラー

FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

＜小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！＞

● 膜厚モニター FE-300

薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。

測定膜厚範囲 *1	10nm ～ 40um *2
測定波長範囲	300nm ～ 800nm *2
測定項目	絶対反射率測定、多層膜厚解析（5層）、光学定数解析

　 *1 光学的膜厚：nd
　 *2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります

＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞

● テラヘルツ分光システム

高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域	0.04 ～ 7 THｚ　（1THｚ＝1012Hz＝0.3mm）
対象試料	粉体・固体・液体

併催のシーズ＆ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。ぜひご聴講ください。

●テ　ー　マ	光散乱技術が導く粒子物性評価の新展開
●発表要旨	ナノ粒子の粒子径測定やゼータ電位測定には、光散乱法が一般的によく使用されているが、光散乱測定では、その他、多くの情報を与えてくれる。本セミナーでは、光散乱測定の新しい物性評価方法として、偏光解消光動的光散乱測定法による針状物質（カーボンナノチューブ、ナノファイバーなど）の軸比の評価、電気泳動光散乱法による柔らかい粒子（細胞、球状高分子電解質など）の物性評価方法などを紹介する。
●対象製品	ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ series）
●日　　　時	2011年2月18日（金）11：30～12：15
●会　　　場	シーズ＆ニーズセミナー A会場

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