●名 称 | 第3回 次世代照明 技術展 -ライティング・ジャパン- |
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●会 期 | 2011年1月19日(水)~21日(金) | |||
●会 場 | 東京国際展示場(東京ビッグサイト) 西ホール | |||
●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 | |||
●同時開催 | ネプコンジャパン 2011 第3回 国際カーエレクトロニクス技術展 第2回 EV・HEV 駆動システム技術展 第1回 クルマの軽量化技術展 |
【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に! |
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● 全光束測定システム(HaflMoon) HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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【 輝度評価 】 330nm~1100nmの高波長帯域に対応! |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。PDの基本性能に重要なメガコントラスト、応答速度測定対応可能です。
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【 量子効率 】 超高感度・高精度・低迷光MCPD分光器を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000 蛍光スペクトルを積分球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
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