イベント　講習会情報－粉体工業展東京2010（POWTEX TOKYO 2010）出展のご案内- 大塚電子株式会社

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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

10月19日（水）から21日（金）までインテックス大阪で行なわれる「粉体工業展大阪2011」に出展します。
大塚電子のブースでは、粉体粒子の分散評価に最適なゼータ電位・粒径測定装置をはじめ各種さまざまな実機を展示します。
製品技術説明会では、「光散乱測定が導く粉体粒子物性」というテーマで講演をおこないます。
各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしております。ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。

●名　称	粉体工業展大阪2011
●会　期	2011年10月19日（水）～21日（金）　9：00～17：30 （19日は9：30から開場）
●会　場	インテックス大阪
●入場料	1,000円（ただし、招待券持参者・事前登録者・学生は無料）（事前登録はこちら）
●主　催	社団法人日本粉体工業技術協会

お客様のご来場時に確実にご対応できますように、アポイントメントシートをご用意させていただきました。こちらよりお申込みください。
アポイントメント・シートの受付は終了させていただきました。

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＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞

● ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

ゼータ電位	-200mV ～ 200mV
粒子径・粒度分布　（Z-2仕様）	0.6nm ～ 7000nm
対応濃度範囲	0.001% ～ 40% *
電気移動度	-20×10-4 ～ 20×10-4 cm2/s･V

*（Latex112/262nm： 0.001 ～ 10%、タウロコール酸：～ 40%）

　・ELSZ用pHタイトレーターシステム

ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。

＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞

● 濃厚系粒径アナライザー　FPAR-1000

希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布	1nm ～ 5000nm（高感度仕様）
対応濃度範囲	0.001% ～ 10% （ラテックス112nmの場合）

● オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー

FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞

● テラヘルツ分光システム　TR-1000 series

高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域	0.04THz ～ 7 THｚ　（1THｚ＝1012Hz＝0.3mm）
対象試料	粉体・固体・液体

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併催の製品技術説明会では以下の内容でセミナーを行います。ぜひご聴講ください。

●テ　ー　マ	光散乱測定が導く粉体粒子物性評価の新展開
●対象製品	ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ series）
●日　　　時	2011年10月21日（金）14：30～15：05
●会　　　場	1号館内セミナー会場B

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