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本展示会は中止となりました。
詳細は応用物理学会のページをご参照ください。
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3月24日から神奈川工科大学で「2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会」が行われます。
大塚電子は、「JSAP EXPO 2011 理化学・計測機材展」に出展します。 この展示会は、講演会の重要な一部であるポスターセッションと同じ会場で開催され、 最新機器と技術の情報交換や交流の場となっています。
弊社ブースでは、膜厚モニター FE-300や量子効率測定システム QEシリーズの実機展示を行います。
学術講演会へお越しの際は、ぜひ付設展示会弊社ブース（2A-11）へもお立ち寄りください。
大塚電子は、「JSAP EXPO 2011 理化学・計測機材展」に出展します。 この展示会は、講演会の重要な一部であるポスターセッションと同じ会場で開催され、 最新機器と技術の情報交換や交流の場となっています。
弊社ブースでは、膜厚モニター FE-300や量子効率測定システム QEシリーズの実機展示を行います。
学術講演会へお越しの際は、ぜひ付設展示会弊社ブース（2A-11）へもお立ち寄りください。
| ●名 称 | 第58回 応用物理学関係連合講演会 JSAP EXPO 2011 理化学・計測機材展 |
| ●会 期 | 2011年3月24日（木）～27日（日） |
| ●会 場 | 神奈川工科大学 第1・第2体育館 |
| ●入場料 | 詳細は事務局にお問い合わせください。 |
| ●主 催 | （社）応用物理学会 |
| 【 膜厚評価 】 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
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● 膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。 コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
*2 仕様により測定膜厚範囲および測定波長範囲は異なります |
| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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| 【 遠赤外（テラヘルツ）領域の測定 】 遠赤外（テラヘルツ）領域を利用し、広帯域・高性能・高操作性を実現 |
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● テラヘルツ分光システム TR-1000  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。
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