●日 時 | 2011年10月12日(水) 13:00~16:30 (受付12:30~) |
●費 用 | 無料 |
●会 場 | 川口総合文化センター・リリア 11階大会議室 (地図はこちら) 住所:埼玉県川口市川口3-1-1 |
●お申込 | お申込は終了させていただきました |
●担 当 | 生田・正木 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
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希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! |
●膜厚モニター FE-300 薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。 安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップしています。 |
平面光源の全光束測定を高精度に評価 |
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、平面光源も簡単にそして精度良く評価できるシステムを提供します。
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