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大塚電子 ニュース
ナノテクノロジー関連技術セミナー in 埼玉                      無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた分析装置の開発をおこなっている大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする各種分析装置の測定技術・応用例などについて技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設します。
ぜひ、この機会に大塚電子の技術セミナーにご参加ください。

ナノテクノロジー関連技術セミナー
日 時 2011年10月12日(水) 13:00~16:30 (受付12:30~)
費 用 無料
会 場 川口総合文化センター・リリア 11階大会議室 (地図はこちら)
  住所:埼玉県川口市川口3-1-1
お申込 お申込は終了させていただきました
担 当 生田・正木
  TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961
ご紹介製品
陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100

陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。



希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
●膜厚モニター FE-300
膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップしています。
平面光源の全光束測定を高精度に評価
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series
全光束測定システム(積分半球仕様)HMseries
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、平面光源も簡単にそして精度良く評価できるシステムを提供します。


技術セミナープログラム

 【受付開始】 (12:30~)
 製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介いたします。
 技術相談もお受けします。
  展示予定製品
   ・ゼータ電位・粒径測定システム
   ・膜厚モニター
   ・全光束測システム
ELSZ シリーズ
FE-300
HM シリーズ
 【Seminar1】 (13:00~13:45)
 キャピラリー電気泳動の食品分野への応用
  ~ 陽イオン分析から無機陰イオンおよび有機酸類の分析まで ~

   ・キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
 食品には、陽イオン、無機陰イオン、有機酸、アミノ酸や糖などが含まれています。
 今回、これらの分離原理からアプリケーションおよび新製品「Agilent 7100」についてご紹介します。
 【Seminar2】 (13:45~14:30)
 粒子径・ゼータ電位測定
  ~ コロイド粒子の分散評価から平板のゼータ電位測定まで ~

   ・ゼータ電位・粒径測定システム
   ・濃厚系粒径アナライザー
   ・ファイバー光学動的光散乱光度計
ELSZ シリーズ
FPAR-1000シリーズ
FDLS-3000
 粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。
 これらの測定原理と測定例、応用技術である平板のゼータ電位測定による表面評価についてご紹介します。
<コーヒーブレイク> (14:30~15:00)

 【Seminar3】 (15:00~15:45)
 光学式膜厚測定による各種用途に応じた評価方法
   ・反射分光膜厚計
   ・分光エリプソメータ
   ・インライン計測システム
FE-3 / FE-300 / FE-3000
FE-5000 / FE-5000S
MCPDシリーズ
 薄膜(0.1nm)~超厚膜(1mm)までの各種用途に応じた膜厚評価ソリューションを、
 R&Dからインライン検査まで個々の事情に応じた評価装置とともにご紹介します。
 【Seminar4】 (15:45~16:30)
 光源と照明の最新評価技術について
   ・量子効率測定システム
   ・全光束測定システム
QE-1000
HM シリーズ
 LEDを中心に平面光源やLEDなどの全光束評価、蛍光体の量子効率評価についてご紹介します。  
 R&D用途から品質管理までトータル的にサポートしてきた大塚電子がその経験を活かした最新の評価技術についてご紹介
 をします。
機器展示および技術相談コーナー
OPEN (12:30~16:45)
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。
ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。

<製品展示>
  ● ゼータ電位・粒径測定システム
     ELSZ series
  ● 膜厚モニター
     FE-300
  ● 全光束測定システム
     HM series

<パネル展示>
  ● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
     FPAR-1000 + FP-3000
  ● ファイバー光学動的光散乱光度計
     FDLS-3000
  ● ダイナミックス光散乱光度計
      DLS-8000
  ● キャピラリ電気泳動システム
      Agilent 7100
  ● 反射分光膜厚計
     FE-3000
  ● 分光エリプソメータ
     FE-5000(S)
  ● 量子効率測定システム
     QE-1000
  ● 工業用ガス分析装置
      IG シリーズ
  ● テラヘルツ分光システム
      TR-1000
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