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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた分析装置の開発をおこなっている大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする分析装置の測定技術・応用例などについて技術セミナーを開催いたします。
また、併設の製品展示コーナーでは、実際の装置でのサンプル測定（粒子径測定）を実施いたします。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
また、併設の製品展示コーナーでは、実際の装置でのサンプル測定（粒子径測定）を実施いたします。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
| ●日 時 | 2011年7月13日（水） 13:00～16:30 （受付12：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | 川崎市産業振興会館 ９階 （地図はこちら） 住所：川崎市幸区堀川町66番地20 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 一原・色川 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
| 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析可能 |
●キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能です。
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| 希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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| 小型・低価格！簡単操作で、"非接触"膜厚測定！ |
●膜厚モニター FE-300  薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。 安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の２種類をラインナップしています。 |
| 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
●量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。 |
【受付開始】 （１２：３０～）
展示機器の見学や、サンプル測定が可能です。
サンプル測定可能機器
サンプル測定可能機器
・オートサンプラー付き
濃厚系粒径アナライザー
濃厚系粒径アナライザー
FPAR-1000+FP-3000
【Seminar１】 （１３：００～１３：４５）
キャピラリー電気泳動の食品分野への応用
～ 陽イオン分析から無機陰イオンおよび有機酸類の分析まで ～
今回、これらの分離原理からアプリケーションおよび新製品「Agilent 7100」についてご紹介します。
～ 陽イオン分析から無機陰イオンおよび有機酸類の分析まで ～
・キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
食品には、陽イオン、無機陰イオン、有機酸、アミノ酸や糖などが含まれています。今回、これらの分離原理からアプリケーションおよび新製品「Agilent 7100」についてご紹介します。
【Seminar２】 （１３：４５～１４：３０）
粒子径・ゼータ電位測定
～ コロイド粒子の分散評価から平板のゼータ電位測定まで ～
～ コロイド粒子の分散評価から平板のゼータ電位測定まで ～
・ゼータ電位・粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱光度計
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱光度計
ELSZ シリーズ
FPAR-1000シリーズ
FDLS-3000
FPAR-1000シリーズ
FDLS-3000
粒子径・ゼータ電位は、分散・凝集のメカニズム解明に重要なパラメータです。
これらの測定原理と測定例、応用技術である平板のゼータ電位測定による表面評価についてご紹介します。
これらの測定原理と測定例、応用技術である平板のゼータ電位測定による表面評価についてご紹介します。
＜コーヒーブレイク＞ （１４：３０～１５：００）
【Seminar３】 （１５：００～１５：４５）
光学式膜厚測定による各種用途に応じた評価方法
・反射分光膜厚計
・分光エリプソメータ
・インライン計測システム
・分光エリプソメータ
・インライン計測システム
FE-3 / FE-300 / FE-3000
FE-5000 / FE-5000S
MCPDシリーズ
FE-5000 / FE-5000S
MCPDシリーズ
薄膜(0.1nm)～超厚膜(1mm)までの各種用途に応じた膜厚評価ソリューションを、
R&Dからインライン検査まで個々の事情に応じた評価装置とともにご紹介します。
R&Dからインライン検査まで個々の事情に応じた評価装置とともにご紹介します。
【Seminar４】 （１５：４５～１６：３０）
蛍光体材料の量子効率評価技術
・蛍光・発光測定システム
・量子効率測定システム
・量子効率測定システム
MCPDシリーズ
QE-1000
QE-1000
LEDや有機ELなどの粉体・液体・フィルム状各種用途の蛍光体材料に対応した測定アプリケーションを、
温度特性や再励起補正などのユニークな評価技術とともにご紹介します。
温度特性や再励起補正などのユニークな評価技術とともにご紹介します。
ＯＰＥＮ （１２：３０～１６：４５）
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。
＜製品展示＞
● ゼータ電位･粒径測定システム
ELSZ series
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
FPAR-1000 + FP-3000
● 膜厚モニター
FE-300
● 量子効率測定システム
QE-1000
＜パネル展示＞
● ファイバー光学動的光散乱光度計
FDLS-3000
● ダイナミックス光散乱光度計
DLS-8000
● キャピラリ電気泳動システム
Agilent 7100
● 膜厚測定システム
MCPD series
● 反射分光膜厚計
FE-3000
● 分光エリプソメータ
FE-5000（S)
● 工業用ガス分析装置
IG シリーズ
＜サンプル測定＞
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000+FP3000
・お持ち頂いた試料をその場で測定いたします
・測定希望の方は1週間前までにご連絡ください。
事前に測定用のバイアル瓶を発送させていただきます。
・検体数は3検体まででお願いします。
・水系以外の試料では、溶媒の屈折率と粘度が必要です。
・サンプル量は1mL以上ご準備ください。
お申込は終了させていただきました
