イベント　展示会情報－nano tech 2010 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議出展のご案内- 大塚電子株式会社

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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

2月17日（水）から19日（金）まで、東京ビッグサイトで「nano tech 2010国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」がおこなわれます。
大塚電子は、ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series、卓上型超遠心機 Optima MAX-XP、ファイバー光学動的光散乱光度計　FDLS-3000、濃厚系粒径アナライザー　FPAR-1000、オートサンプラー（FPAR用）　FP-3000、卓上型分光エリプソメータ FE-5000S、テラヘルツ分光器 TR-1000 を展示いたします（東4ホールブースNo.A-06）。各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

また、シーズ＆ニーズセミナーでは「光散乱技術が導くナノ粒子測定」というタイトルで講演をおこないます。
こちらのセミナーにもご参加ください。お待ちしております。
　

●名　称	nano tech 2010　国際ナノテクノロジー総合展・技術会議
●会　期	2010年2月17日（水）～19日（金）　10:00～17:00
●会　場	東京国際展示場（東京ビッグサイト）　東4・5・6ホール
●入場料	3,000円（事前登録された方には、無料招待券が送付されます）　事前登録を希望される方は nano tech 2010 ホームページ内の　こちらのページからお申し込みください。
●主　催	nano tech 実行委員会
●併　催	ナノバイオ Expo 2010 , ASTEC 2010 , METEC '10 新機能性材料展 2010 , Inter Aqua 2010

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＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞

● ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

ゼータ電位	-200mV ～ 200mV
粒子径・粒度分布　（Z-2仕様）	0.6nm ～ 7000nm
対応濃度範囲	0.001% ～ 40% *1
電気移動度	-20×10-4 ～ 20×10-4 cm2/s･V

*1（Latex115/262nm： 0.001 ～ 10%、タウロコール酸：～ 40%）

● ELSZ用pHタイトレーターシステム

ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。

● 卓上型超遠心機 Optima MAX-XP

最高回転数150,000rpmを提供する卓上型超遠心機Optima MAX-XPは、核酸・タンパク質からカーボンナノチューブまで幅広いサンプル分離に応用できます。

最高回転数	150,000rpm
最大遠心力	1,019,000g

＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞

● 濃厚系粒径アナライザー　FPAR-1000

希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布	1nm ～ 5000nm（高感度仕様）
対応濃度範囲	0.001% ～ 10%

● FPAR用オートサンプラー

FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

＜ナノ粒子を高精度かつ容易に測定が可能、高温･高圧セルなど特殊セルにも対応＞

●ファイバー光学動的光散乱光度計　FDLS-3000

固体レーザーと高感度検出器により、ナノ粒子 0.5nm ～ 5000nmのサブミクロン粒子を精度よく測定することが出来ます。

粒子径・粒度分布

0.5nm ～ 5000nm

＜コンパクト・高機能エリプソメータを低価格で提供！＞

● 卓上型分光エリプソメータ　FE-5000S

高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータです。自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様の分光エリプソメータを低価格・省スペースにて実現しました。薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能であり、膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供することが可能です。

測定膜厚範囲	0.1nm ～ 1μm
測定波長範囲	300nm ～ 800nm
検出器	ポリクロメータ（PDA、CCD）
測定項目	エリプソパラメータ（cosΔ,tanψ）光学定数解析（k：消衰係数、n：屈折率）、膜厚解析

＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞

● テラヘルツ分光器

高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域	0.04 ～ 7 THｚ　（1THｚ＝1012Hz＝0.3mm）
対象試料	粉体・固体・液体

併催のシーズ＆ニーズセミナーでは以下の内容でセミナーをおこないます。ぜひご聴講ください。

●テ　ー　マ	光散乱技術が導くナノ粒子測定
●発表要旨	光散乱測定では、ナノ粒子測定が可能である。本講演では、最近の機能性材料（カーボンナノチューブ、フラーレン、デンドリマー、金属ナノ粒子など）や生体関連物質（タンパク質、リポソーム、界面活性剤、高分子電解質、ゲルなど）の粒径・ゼータ電位測定例とその評価方法を紹介する。
●対象製品	ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ series）
●日　　　時	2010年2月19日（金）11：30～12：15
●会　　　場	シーズ＆ニーズセミナー A会場

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