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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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9月7日にLED照明推進協議会(JLEDS)主催のシンポジウム「JLEDSシンポジウム2010」が東京・きゅりあんにて開催されます。
大塚電子は、このシンポジウムの併設展示会にて、LED評価機器の展示および弊社の最新技術を紹介します。
シンポジウムへお越しの際は、ぜひ弊社ブースにもお立ち寄りください。
大塚電子は、このシンポジウムの併設展示会にて、LED評価機器の展示および弊社の最新技術を紹介します。
シンポジウムへお越しの際は、ぜひ弊社ブースにもお立ち寄りください。
| ●名 称 | JLEDSシンポジウム2010 |
| ●会 期 | 2010年9月7日（火） 12：00～18：30 [ シンポジウムは 13：00～17：40 開催 ] |
| ●会 場 | きゅりあん |
| ●申込方法 | こちらよりお申込ください。 |
| ●主 催 | LED照明推進協議会 |
| 【 光源評価 】 バックライトなどの面発光光源評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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